Occasion KLA / TENCOR 8100 #9203296 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100 est un microscope électronique à balayage (SEM) à hautes performances, conçu pour l'imagerie et l'analyse de composition. Il dispose d'une source d'émetteur de champ froid et d'un détecteur SE haute performance. Le système optique électronique est basé sur une conception avancée de colonne, fournissant une capacité d'imagerie exceptionnelle sur une large gamme de distances de travail et de grossissements. Le microscope est capable d'imagerie sous-nanométrique de résolution et, en mode basse émission, peut accueillir de petites tailles de faisceau pour l'analyse de composition. KLA 8100 a une sensibilité analytique élevée et offre un balayage avancé et un contrôle de précision pour l'imagerie efficace et l'analyse de composition. Il est capable de profiler en profondeur pour analyser la composition chimique dans le sens de la profondeur. Il dispose d'un détecteur de rétrodiffusion et de détecteurs d'ions doubles intégrés qui mesurent le spectre d'énergie des ions pour la cartographie élémentaire et l'analyse de la composition. TENCOR 8100 offre une large gamme de capacités d'automatisation pour des flux de travail conviviaux, y compris la manipulation d'échantillons, la détection d'orientation d'échantillons, la capture automatisée d'images et des tâches intégrées comme la couture d'images. Le microscope peut être utilisé en combinaison avec des étages de mesure à vide faible et moyen pour l'alignement et la manipulation de l'échange automatique d'échantillons SEM entre les étages de microscope et de vide. 8100 produit des images avec un excellent contraste et un rapport signal sur bruit élevé à de faibles courants de faisceau, ce qui permet à l'utilisateur d'obtenir un maximum de détails et un grand champ de vision avec un minimum d'artefacts de charge. Les fonctions automatisées et la synthèse d'image contrôlée par logiciel réduisent le temps d'analyse multivariée de l'opérateur. KLA/TENCOR 8100 est un outil idéal pour l'analyse des défaillances des semi-conducteurs, étudiant un large éventail de matériaux tels que métaux, céramiques, inorganiques, composites, polymères industriels et échantillons biologiques. Il convient également à la caractérisation des structures des dispositifs, à l'évaluation de la morphologie de surface et des défauts lithographiques, ainsi qu'à la mesure de la granulométrie, de la forme et de la rugosité de surface.