Occasion KLA / TENCOR 8100 #9377283 à vendre en France

KLA / TENCOR 8100
ID: 9377283
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8".
KLA/TENCOR 8100 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour un large éventail d'applications d'imagerie et d'analyse, y compris la caractérisation des matériaux, l'analyse des pannes et l'inspection des plaquettes. Il est capable de sous-nanométrie résolution sur de grandes surfaces, ce qui en fait un outil idéal pour la recherche avancée et les applications industrielles. KLA 8100 est équipé d'un détecteur SE-SEM haute résolution, fournissant une imagerie à haut contraste avec une sensibilité de détection accrue et une résolution améliorée. Le détecteur dispose également d'un large champ de vision et d'une fonction de balayage à cadre roulant pour un balayage rapide. Ce détecteur est couplé à un faisceau de trou de pinceau à haute résolution pour l'imagerie de haut niveau. Les principales fonctions de balayage et d'imagerie du SEM sont alimentées par un système d'affichage numérique multicolore qui contrôle une gamme de paramètres d'échantillonnage, y compris le positionnement, l'agrandissement, la focalisation, la résolution et l'énergie du faisceau. Le SEM fournit également diverses fonctions analytiques, telles que l'EDX quantitative (Energy-dispersive X-ray spectrum analysis), la cartographie des éléments, l'arithmétique des images et l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB). TENCOR 8100 dispose d'une gamme de paramètres de capacités d'échantillonnage conçus pour répondre aux exigences des différentes tâches d'imagerie et d'analyse. Il peut être facilement exploité via une interface utilisateur graphique, ce qui permet aux opérateurs de sélectionner des paramètres en quelques clics de la souris. Le système offre également une large gamme de fonctions d'imagerie et d'analyse automatisées. Ce SEM offre un fonctionnement sous vide réduit pour les échantillons sensibles à l'utilisation sous vide élevé. Il dispose également d'une fonction d'autofocus à 3 axes qui assure des images acérées des échantillons, quelle que soit leur hauteur, leur forme ou leur texture de surface. 8100 a également la flexibilité d'être utilisé avec une variété de chambres et de porte-échantillons, ce qui en fait un choix idéal pour un large éventail d'applications d'imagerie et d'analyse.
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