Occasion KLA / TENCOR 8100XP #293600177 à vendre en France

ID: 293600177
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XP est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse d'une grande variété d'échantillons. Utilisé à la fois dans les milieux de recherche et industriels, ce puissant microscope permet aux utilisateurs d'observer et d'analyser en détail les caractéristiques de surface des échantillons. KLA 8100XP possède une source d'électrons à canon à émission de champ (FEG), offrant une résolution spatiale et une stabilité améliorées par rapport aux sources d'émission thermioniques traditionnelles. La fonction de pression variable intégrée permet l'imagerie en mode entre microscopie électronique à balayage sous vide et à balayage sous vide ; ce mode optimise les paramètres d'imagerie pour les échantillons ayant des propriétés de surface différentes. Ce SEM est également livré avec un spectromètre dispersif d'énergie X (EDS), qui permet une analyse élémentaire de l'échantillon. TENCOR 8100 XP est capable d'imager avec différents courants de faisceau et d'accélérer les tensions, donnant aux utilisateurs plus de contrôle sur les conditions d'imagerie de leur échantillon. Il offre également une large gamme de vitesses de balayage, répondant aux besoins des systèmes d'inspection automatisés à grande vitesse et des analyses manuelles de laboratoire plus lentes. TENCOR 8100XP est conçu pour être convivial, avec des commandes logicielles intuitives et une interface utilisateur claire. Le logiciel permet aux utilisateurs d'effectuer facilement une variété d'opérations, y compris l'analyse de données, le formatage d'images et l'exploitation à distance. Le système de contrôle matériel inclus comprend un clavier tactile et un moniteur, offrant aux utilisateurs un accès en temps réel aux fonctions de microscope à partir d'un emplacement pratique. Dans l'ensemble, 8100 XP est un microscope électronique à balayage avancé optimisé pour la polyvalence et la facilité d'utilisation. De l'imagerie de haute qualité à l'analyse complexe de surface, ce SEM offre aux utilisateurs une gamme d'options pour tester, étudier et analyser des échantillons.
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