Occasion KLA / TENCOR 8100XP #293662978 à vendre en France

KLA / TENCOR 8100XP
ID: 293662978
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8100XP est un microscope électronique à balayage (SEM) développé par le principal fabricant de métrologie optique et d'inspection KLA. Il offre des performances inégalées dans l'analyse de surface, l'imagerie et l'inspection des défauts. KLA 8100XP dispose d'un système avancé de faisceau PrimEx qui fournit une qualité d'image ultime dans toutes les applications. Il rend des images 3D précises et haute résolution avec une profondeur de détail et une fidélité de bord inégalées. Il a la capacité d'examiner les zones de défauts de profondeur variable avec facilité, et la flexibilité d'acquérir les meilleures images selon l'application. TENCOR 8100 XP est équipé d'un grand champ de vision de 8 pouces, permettant une analyse plus rapide et des images plus détaillées. Les images haute résolution sont générées à une résolution sans précédent de 6,4nm, ce qui le rend idéal pour identifier les détails des caractéristiques fines dans les structures des appareils comme les transistors, les structures MEMS et les films minces. Combiné à sa capacité d'acquisition de données à grande vitesse, ce SEM vous permet d'observer des phénomènes en évolution rapide sur place et en temps réel. En outre, 8100 XP dispose d'une gamme complète de capacités analytiques. Il est équipé d'un système d'imagerie arrière qui offre une vue en coupe complète des structures, permettant une comparaison directe avec les spécifications de conception. La capacité avancée de microanalyse, grâce à un large choix de détecteurs, offre la spectroscopie dispersive d'énergie avancée (EDS) et l'imagerie par filtre d'énergie (EFI) pour extraire des informations élémentaires importantes de l'échantillon. En outre, 8100XP est livré avec une étape automatisée et un logiciel intuitif d'automatisation de flux de travail. Cet ensemble convivial permet d'augmenter la productivité et d'améliorer la précision lors de la métrologie et de l'inspection des défauts. KLA/TENCOR 8100 XP est le premier SEM pour l'analyse rapide, précise et répétable de surface et l'inspection des défauts. Sa plateforme conviviale, ses capacités analytiques complètes et son système d'imagerie avancé en font l'instrument idéal tant pour la recherche que pour les applications industrielles.
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