Occasion KLA / TENCOR 8100XP #293817780 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100XP est un microscope électronique à balayage (SEM) qui est souvent utilisé pour inspecter, mesurer, analyser et inspecter les matériaux et les dispositifs jusqu'à l'échelle du nanomètre. Il s'agit typiquement de manipuler un faisceau extrêmement mince d'électrons émis par un filament chauffé, qui est ensuite focalisé à l'aide de lentilles électromagnétiques et imagé sur un détecteur numérique pour capturer des images de surfaces. KLA 8100XP est un système SEM polyvalent qui fournit aux utilisateurs une gamme de capacités de caractérisation et d'analyse à l'échelle nanométrique. Son faisceau d'électrons est capable de générer des images avec une netteté et une résolution remarquables qui peuvent visualiser des caractéristiques jusqu'à 0,7nm, permettant la recherche pour observer et étudier les surfaces des matériaux et des dispositifs. Il dispose également de capacités de détection avancées, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), la microscopie à force atomique (AFM), le module de caractérisation électrique (ECM), l'inspection automatisée et le profilage d'échantillons 3D. Le TENCOR 8100 XP est également très personnalisable, avec un support pour des substrats d'échantillons jusqu'à 6 pouces de diamètre et une plage de fonctionnement sûre de 10-300 kV. Il comprend également un puissant logiciel d'exploitation qui permet aux utilisateurs de contrôler intuitivement le microscope, d'analyser et de stocker des données, et de gérer des conceptions avancées d'interface graphique utilisateur (UI). En termes de performances, 8100 XP dispose d'un mode d'imagerie haute vitesse qui peut scanner une surface allant jusqu'à 457mm2 dans un impressionnant 4ms. Il offre également des commandes de navigation automatisées intuitives et un étalonnage automatique pour garantir la précision et la fiabilité pendant le fonctionnement. Et grâce à son haut niveau de précision et de contrôle, 8100XP est capable d'effectuer la détection répétable et fiable des défauts, l'analyse d'images, et d'autres tâches spécialisées. TENCOR 8100XP est bien adapté à toute une gamme d'industries et d'applications de recherche, car il est capable de fournir des données microstructurales fiables et des images à haute résolution. Il est généralement utilisé pour détecter et analyser les défauts des circuits et composants semi-conducteurs, fabriquer des matériaux nanostructurés et étudier les matériaux au niveau atomique et nanoscopique.