Occasion KLA / TENCOR 8100XP #9225281 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100XP est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images haute résolution des surfaces jusqu'à la résolution nanométrique. L'équipement est équipé d'un détecteur hyper-détecteur et dans la lentille afin de maximiser la résolution. La résolution du système peut atteindre 2,0 nanomètres en mode électronique secondaire, et 4,0 nanomètres pour les électrons rétrodiffusés. KLA 8100XP dispose d'une étape de l'identifiant des échantillons qui est une technologie fiable et avancée de mise en scène et de cartographie. Il est capable de balayage X-Y 200mm zone, Z-axe mouvement, la capacité d'inclinaison, et auto-focus. TENCOR 8100 XP dispose d'une unité d'imagerie conçue pour capturer des images haute résolution, y compris des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés. La machine comprend également un outil EDS pour la spectroscopie dispersive d'énergie. Ce dispositif peut être utilisé pour aider à différencier les matériaux à base d'éléments et caractériser la composition chimique des surfaces. En outre, 8100 XP dispose d'un SEM à pression variable intégré qui permet une analyse à différentes pressions, et une option à vide pour l'analyse des matériaux isolants et organiques. L'actif optique de KLA/TENCOR 8100 XP dispose d'un détecteur à lentille et d'un détecteur annulaire pour une imagerie à haute résolution cohérente. La chambre à vide carrée de 8 pouces du modèle permet d'accueillir facilement des échantillons de plus grande taille. Il est équipé de capacités auto-focus et auto-stigmatisation qui fournissent une base constante pour l'imagerie. L'équipement est piloté et exploité par une plate-forme logicielle basée sur Windows avec une large gamme de fonctions de manipulation d'image. KLA 8100 XP est un microscope électronique à balayage fiable et très précis, permettant aux utilisateurs de capturer des images avec des résolutions nanométriques. Sa technologie intégrée de mise en scène d'échantillons et ses capacités d'imagerie uniques fournissent aux chercheurs et aux ingénieurs les outils nécessaires pour étudier et cartographier la composition et la structure de diverses surfaces de matériaux. Ce système est bien adapté pour l'analyse et l'imagerie de matériaux à nano-échelle à haute résolution.