Occasion KLA / TENCOR 8100XP #9258655 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100XP est un équipement qui combine des capacités avancées de microscopie électronique optique et à balayage ainsi que des applications logicielles d'analyse afin de permettre l'imagerie haute résolution et l'inspection des matériaux, dispositifs et autres composants. Il s'agit d'un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui permet l'inspection non destructive et sans contact de dispositifs de taille aussi petite que 10 nanomètres. Il fournit des grossissements inégalés allant jusqu'à 200kX, ainsi que l'imagerie de grandes zones à ultra haute résolution. L'UCK 8100XP est constituée d'une unité principale, connue sous le nom de microscope à imagerie à semi-conducteur (SIM). Cette unité comprend un émetteur avancé de canon à électrons pour l'imagerie, ainsi qu'un détecteur 3D pour capter les signaux d'une variété de types d'électrons. Il comprend également une étape spéciale de manipulation et de mesure de dispositifs, ainsi qu'un système de traitement d'image numérique. Cette unité est conçue pour permettre une analyse rapide et précise de fonctionnalités extrêmement petites, tout en fournissant des images haute résolution. TENCOR 8100 XP utilise un mode TEM (Transmission Electron Microscope) conçu pour inspecter les surfaces à la résolution nanométrique. Cela permet aux utilisateurs de mieux détecter des caractéristiques telles que l'orientation des cristaux, les concentrations de dopants et d'autres propriétés physiques de l'échantillon examiné. De plus, la machine d'imagerie 3D 8100XP permet d'évaluer les caractéristiques topographiques telles que les défauts, la taille des grains et la profondeur. De plus, le SEM utilise une technologie automatisée de piquage d'images qui permet la création d'images plus grandes en combinant plusieurs images en une seule. Il est ainsi beaucoup plus facile d'évaluer avec précision les caractéristiques de surface des grands échantillons, car leur imagerie en images uniques prendrait trop de temps pour être pratique. TENCOR 8100XP comprend également des applications logicielles facultatives et complémentaires pour fournir des fonctions de métrologie automatisées telles que la reconnaissance des caractéristiques, le comptage des particules et l'analyse de taille, les mesures de largeur de ligne et d'autres mesures de profil. Ces applications sont conçues pour gagner du temps et des efforts car elles peuvent rapidement analyser les surfaces de composants plus compliqués. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR 8100 XP est un instrument puissant conçu pour l'analyse des nanomatériaux et autres petits appareils. Il fournit des capacités d'imagerie haute résolution qui permettent l'inspection et l'analyse des plus petites caractéristiques. En outre, ses applications logicielles optionnelles permettent une analyse plus rapide et automatisée des surfaces.