Occasion KLA / TENCOR 8100XP #9286582 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage KLA/TENCOR 8100XP (SEM) est le modèle le plus moderne, offrant une imagerie haute résolution et des capacités analytiques précises. Ce microscope électronique à balayage est idéal pour un large éventail d'applications, de l'analyse des défaillances des semi-conducteurs et de l'examen des échantillons aux essais non destructifs avec EDS aux rayons X. KLA 8100XP est un équipement automatisé d'inspection des défauts de semi-conducteurs. Ce système est capable de capturer des images haute résolution d'échantillons à des résolutions allant jusqu'à 0,5 micron. Il utilise à la fois des électrons secondaires et un balayage X-Y instantané. De plus, il peut recueillir des données compositionnelles et topographiques grâce à son spectromètre dispersif intégré. L'unité dispose d'une optique améliorée pour les applications à faible kV, offrant une qualité d'image supérieure pour un large éventail de domaines et d'applications. Pour l'analyse des matériaux, TENCOR 8100 XP intègre une combinaison d'électrons rétrodiffusés et d'électrons secondaires qui donnent une représentation précise de la composition élémentaire. KLA/TENCOR 8100 XP est conçu pour augmenter la productivité dans le processus de contrôle de la qualité, fournissant des informations sur l'emplacement, la composition, la taille, la forme et la géométrie des défauts. Il offre une interface facile à utiliser pour saisir et analyser rapidement les défauts afin de s'assurer que la recherche de produits et les processus de fabrication atteignent le plus haut niveau de qualité. TENCOR 8100XP est facile à utiliser. Il est équipé de multiples fonctions d'automatisation pour recueillir rapidement des données et fournir une analyse significative sans ajustements manuels longs. En outre, un logiciel avancé d'analyse d'image peut être utilisé pour comparer les données sur plusieurs échantillons, afin de suivre l'évolution et la croissance des défauts individuels. Pour l'analyse des matériaux de base, KLA 8100 XP peut produire des scans élémentaires et des analyses ponctuelles. Cette machine peut également réaliser des applications de plus haut niveau avec correction automatisée de dérive et des étapes automatisées. 8100XP est incorporé avec une capacité de filtration avancée, ce qui lui permet d'avoir une stabilité de balayage élevée pour les échantillons particulièrement sensibles à l'exposition aux rayonnements. L'outil sous vide intégré est conçu pour fournir un environnement propre pour une excellente qualité d'imagerie sans contamination des échantillons ou accumulation de matériaux sur l'optique. L'intégration de 8100 XP avec les systèmes KLA permet une analyse consécutive des composants et des réparations, de sorte que la productivité peut être optimisée sur de longues périodes. Cet atout est idéal pour l'analyse des défaillances des semi-conducteurs en raison de ses capacités d'imagerie avancées, de sa résolution améliorée, de ses fonctionnalités automatisées et de son interface conviviale.