Occasion KLA / TENCOR 8100XP #9410217 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100XP est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour mesurer la morphologie de surface, la composition et les propriétés électriques des matériaux. Il est livré avec une variété de fonctionnalités et d'outils utiles qui rendent l'analyse d'échantillons plus fiable, efficace et répétable. KLA 8100XP est capable de fonctionner dans des conditions de vide élevé, ce qui le rend parfait pour l'analyse de surface, l'imagerie et la mesure des propriétés électriques. Le SEM est également équipé d'un détecteur STEM pour la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) pour identifier la composition élémentaire dans les échantillons. Un système de microscopie automatisé et un microscope optique inversé aident à minimiser les temps de balayage et à augmenter la précision. TENCOR 8100 XP dispose également de plusieurs technologies avancées d'imagerie et de rétroaction de position, y compris la navigation optique pour la navigation en un seul point très défini, l'auto-focus pour aligner le foyer de l'échantillon avec l'image, et la capacité d'image des matériaux de couches minces transparentes. 8100 XP dispose également d'un pas automatisé pour le changement des échantillons et d'une régulation automatisée de la pression de la chambre pour une stabilité accrue de la chambre. Le microscope a une résolution allant jusqu'à 1nm et est capable de détecter des caractéristiques avec une précision de sub-micron. 8100XP offre également un logiciel optionnel appelé ProQuant II qui aide à mesurer la topographie de surface, le profil et les paramètres électriques. KLA 8100 XP SEM est conçu pour une large gamme de recherches sur les matériaux, et ses fonctionnalités avancées peuvent fournir des résultats précis et fiables. Grâce à ses capacités d'imagerie supérieures, les opérateurs peuvent effectuer des mesures fiables et précises des caractéristiques et des propriétés de surface d'une variété de matériaux plus rapidement et plus efficacement que jamais.