Occasion KLA / TENCOR 8100XPR #293605761 à vendre en France

KLA/TENCOR 8100XPR est un microscope électronique à balayage de bureau (SEM) conçu pour des applications d'imagerie haute résolution et de spectroscopie. Ce microscope projette un faisceau d'électrons sur la surface de l'échantillon, ce qui le fait émettre des électrons secondaires, des rayons X et des électrons rétrodiffusés. Ces signaux émis sont alors détectés et utilisés pour construire une image de la surface. Ce SEM est capable de produire des images à des résolutions allant jusqu'à 1 nm, ce qui le rend apte à analyser des matériaux nanométriques. KLA 8100XPR est équipé d'un canon à électrons primaire à haute énergie, permettant à l'utilisateur de travailler avec une large gamme de matériaux d'échantillon. Ce canon produit un faisceau allant jusqu'à 1500V, qui peut être réglé à une résolution ponctuelle au microscope de 4 nm. Le canon fournit également un temps d'exposition exceptionnellement court et un courant de faisceau élevé. Cela permet à l'utilisateur de capturer des images à faible dérive et à des grossissements extrêmement élevés. TENCOR 8100XP-R est également équipé d'une gamme de détecteurs, dont un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffusés, un détecteur de rayons X et un détecteur de charge. Ces détecteurs permettent au microscope d'analyser des échantillons de matériaux conducteurs, isolants et semi-conducteurs. Le détecteur de rayons X est particulièrement utile pour analyser la composition élémentaire de l'échantillon. KLA 8100XP-R offre également une gamme de fonctionnalités automatisées pour l'imagerie, telles que la stigmatisation automatisée et la correction de l'astigmatisme, la capture et la couture automatisées des images, et la reconnaissance automatique des motifs pour détecter les caractéristiques des images. Le microscope comprend également un logiciel ChromaJet intégré, qui peut être utilisé pour analyser et mesurer la couleur des surfaces d'échantillons. 8100XP-R est un SEM puissant et polyvalent idéal pour l'analyse et la caractérisation des matériaux. Il offre une imagerie haute résolution, une haute résolution de points de microscopie, une imagerie automatisée et une détection de fonctionnalités, ainsi qu'une gamme de détecteurs pour analyser la composition élémentaire de l'échantillon. Cette combinaison de fonctions fait de 8100XPR un excellent choix pour les chercheurs qui ont besoin d'un SEM de bureau pour analyser les matériaux nanométriques.