Occasion KLA / TENCOR ECD-2 #9119377 à vendre en France

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ID: 9119377
Style Vintage: 2005
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) Roughing pump interface kit Gem / SECS: E4, E5, E30, E37 High voltage power transformer Elect rack - rear exhaust Triple foup load ports, 12" DAB board is defective Power: 220 / 380V, 60Hz CE Marked 2005 vintage.
KLA/TENCOR ECD-2 est un microscope électronique à balayage à très haute résolution (SEM) spécialement conçu pour l'inspection à haute résolution et la métrologie. C'est un outil puissant pour l'imagerie de surfaces et de structures nano-échelle extrêmement complexes à des résolutions sous-nanométriques. KLA ECD2 est un équipement polyvalent qui peut être utilisé pour diverses applications, y compris la recherche en nanotechnologie, la fabrication de semi-conducteurs et la science des matériaux. TENCOR ECD 2 est équipé d'un nombre exceptionnel de caractéristiques pour fournir des performances et une précision inégalées. Il est conçu pour la précision, avec son contrôle de charge très sensible et la détection de signal, permettant une imagerie haute résolution avec des niveaux de bruit faibles et un niveau de fond minimal. KLA ECD 2 est également équipé d'un étage automatisé qui peut voyager jusqu'à des mouvements 3D. Cette polyvalence permet une capacité d'imagerie 3D haute résolution pour une variété d'applications. TENCOR ECD-2 dispose d'un système avancé de différentiel d'énergie et de charge (ECD) qui permet des capacités d'imagerie électronique inégalées. L'unité dispose d'un courant ultra bas du faisceau d'électrons de seulement 160 pA et d'une large gamme d'énergies de faisceau réglables allant jusqu'à 10keV, offrant une couverture complète des échantillons avec une extrême précision et résolution. ECD2 est équipé d'une machine d'acquisition de données très avancée dotée à la fois d'un outil d'imagerie rétrodiffusée à haute résolution (BSI) et d'un actif d'imagerie à électrons secondaires (SEI). Le modèle BSI permet d'imiter la surface d'un échantillon avec une résolution maximale de 2nm. L'équipement SEI est capable d'imiter des échantillons avec une résolution maximale de 7nm. ECD 2 dispose d'un porte-spécimen très avancé qui est conçu pour supporter une large gamme de spécimens. Il est équipé d'un système de manipulation sous vide avec chargement automatisé pour une manipulation facile des échantillons lors d'une expérience. Cette unité est également conçue pour une stabilité optimale des échantillons, assurant une imagerie précise et la collecte de données. Globalement, KLA/TENCOR ECD 2 est un microscope électronique à balayage de nouvelle génération qui offre des capacités d'imagerie ultra haute résolution. Sa machine ECD très avancée combinée à ses systèmes avancés d'acquisition de données offre une combinaison unique de fonctionnalités pour une variété d'applications.
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