Occasion KLA / TENCOR ECD-2 #9269028 à vendre en France

ID: 9269028
Style Vintage: 2005
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM) 2005 vintage.
KLA/TENCOR ECD-2 est un microscope électronique à balayage haute résolution (SEM) qui fournit des performances de pointe pour les fabricants de semi-conducteurs et les laboratoires de recherche. Il est conçu pour fournir une imagerie haute résolution avec un excellent débit et un faible bruit. KLA ECD2 utilise une conception de colonne sphérique extrêmement stable et précise sur une large plage de température. Cela rend le SEM idéal pour l'imagerie ultra haute résolution. Les systèmes avancés d'imagerie électronique secondaire et de spectrométrie aux rayons X permettent à l'utilisateur de visualiser et d'analyser les caractéristiques avec une grande précision. De plus, l'étage automatisé permet à l'utilisateur de se déplacer rapidement entre les zones d'imagerie. TENCOR ECD 2 intègre des capacités de dissociation avancées induites par la collision pour une précision et une résolution plus élevées des matériaux à faible numéro atomique. Cela permet d'analyser l'arséniure de gallium (GaAs) et d'autres composés semi-conducteurs à plus haute résolution. Ceci est essentiel pour les procédés avancés de fabrication de semi-conducteurs. KLA/TENCOR ECD 2 dispose d'une fonction d'inspection latérale automatisée qui permet de détecter des largeurs de ligne aussi petites que 1 nanomètre. Cela fait du SEM un outil essentiel pour analyser la technologie actuelle des semi-conducteurs. En outre, la fonction d'analyse des matériaux à micro-échelle facilite une évaluation plus rapide et plus économique des technologies de procédé. Les capacités combinées électrons-optiques de KLA ECD-2 en font un système d'imagerie fiable et puissant. Le système de traitement numérique du signal augmente la résolution des données d'imagerie. Cela permet à TENCOR ECD-2 de capturer des images haute résolution plus rapidement que jamais. KLA/TENCOR ECD2 dispose d'une interface conviviale qui permet un fonctionnement facile. Le système de vide est conçu pour fournir l'environnement requis pour le bon fonctionnement du SEM. De plus, KLA ECD 2 est équipé de pompes à air et de systèmes de contrôle de l'humidité pour garantir la meilleure qualité d'image. En conclusion, ECD2 est un SEM haute résolution qui fournit des performances de pointe pour les fabricants de semi-conducteurs et les laboratoires de recherche. Ses systèmes avancés d'imagerie électronique secondaire et de spectrométrie aux rayons X permettent à l'utilisateur d'analyser avec précision les caractéristiques, tandis que sa fonction d'inspection latérale automatisée permet d'analyser la technologie actuelle des semi-conducteurs. De plus, son interface conviviale et ses systèmes de contrôle de la température, du vide et de l'humidité en font l'outil d'imagerie idéal.
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