Occasion KLA / TENCOR EV200 #9223844 à vendre en France

KLA/TENCOR EV200 est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans la recherche en analyse de matériaux. Il est conçu pour fournir une image très détaillée et tridimensionnelle du spécimen, et ses caractéristiques permettent aux utilisateurs d'obtenir une variété de données à partir de spécimens. La technologie de pointe de KLA EV200 permet un fonctionnement précis à une grande variété de grossissements de microscopes primaires et secondaires jusqu'à 120 000 x. Cela permet aux utilisateurs d'observer des caractéristiques extrêmement petites, comme des atomes individuels, avec une grande clarté. De plus, le microscope est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui fournit des niveaux élevés de stabilité et d'uniformité lors de l'imagerie. Cette FEG produit un faisceau d'électrons qui peut être focalisé sur l'échantillon, qui est ensuite balayé et une image est formée. En outre, TENCOR EV200 dispose d'une grande chambre, permettant aux échantillons d'avoir une variété de géométries. Cela inclut le balayage d'échantillons à faible contraste et à grande surface tels que les revêtements, les films et les matières organiques. De plus, la chambre est conçue pour maintenir un échantillon dans un environnement de basses vibrations mécaniques et d'humidité, tout en permettant une analyse à pression variable. EV200 dispose également d'une suite logicielle intégrée d'analyse d'images qui permet aux utilisateurs d'analyser des spécimens à grande vitesse à l'aide d'outils automatisés. Cela inclut des fonctionnalités telles que la détection automatisée des fonctionnalités, la classification multicouche et les capacités de modélisation 3D. De plus, ce logiciel est conçu pour permettre une analyse précise des images par des modifications mineures. De plus, KLA/TENCOR EV200 dispose d'un certain nombre de détecteurs intégrés, qui permettent à l'utilisateur de saisir des données sous plusieurs angles différents. Le premier est le détecteur d'électrons secondaire (SE), qui produit une image à haute résolution qui peut être utilisée pour évaluer la topologie de surface et les microstructures. En outre, le détecteur d'électrons de signal (ESB) est déterminé par rétrodiffusion d'électrons, fournissant des données précieuses sur la composition, l'épaisseur, le grain et la texture. Enfin, le détecteur rapide d'électrons (FE-SEM) est utilisé pour capter les signaux électroniques provenant d'objets à haute vitesse et résolution. En conclusion, KLA EV200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir une image rapide, efficace et détaillée des échantillons microscopiques. Ses fonctionnalités puissantes et ses détecteurs intégrés permettent aux chercheurs d'obtenir des données très précises, tandis que la suite logicielle intégrée d'analyse d'images permet une analyse rapide des échantillons.