Occasion LEO 430 #185415 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage LEO 430 (SEM) est un puissant dispositif utilisé pour l'analyse approfondie de la structure microscopique de divers matériaux organiques et inorganiques. Il produit des images haute résolution avec une plage de grossissement allant jusqu'à 10 000 x et une distance de travail comprise entre 0,5 et 10 mm. 430 SEM est équipé d'un détecteur de type everhart-thornley, qui fournit des résultats rapides et fiables. Il est capable de détecter la topographie, la composition, la morphologie visuelle et la taille de l'échantillon. LEO 430 SEM travaille sur le principe de la détection d'images d'électrons secondaires. Ce principe repose sur le balayage d'un faisceau mince focalisé d'électrons rapides à travers la surface de l'échantillon, ce qui provoque à son tour l'émission d'électrons secondaires à partir de la surface de l'échantillon. Ces électrons secondaires sont alors détectés par le détecteur de type everhart-thornley qui produit une image de la surface de façon très détaillée. La résolution des images produites par 430 est significativement supérieure à celle obtenue par d'autres moyens de microscopie. Le LEO 430 est également équipé d'un système à vide élevé, nécessaire pour fonctionner à des grossissements très élevés. Ce système est capable d'atteindre une pression de 2 x 10e-7 Torr. Ceci permet au faisceau de pénétrer la surface de l'échantillon avec une distorsion minimale et donc de produire des images à haute résolution. En outre, le système de vide offre également un niveau de protection contre les poussières et les particules tout en maintenant l'entretien requis au minimum. La figure 430 est équipée d'un porte-échantillon à simple inclinaison revêtu de vide qui offre une vue en grand angle de l'échantillon permettant de visualiser différentes facettes de la surface de l'échantillon. Cela est encore amélioré grâce à la capacité du SEM à incliner le porte-échantillon sur une large plage allant jusqu'à 60 degrés. Le porte-échantillon est également équipé d'un étage de translation des échantillons X et Y qui offre une capacité de positionnement précise pour saisir en détail les différentes caractéristiques de la surface de l'échantillon. LEO 430 fournit un outil puissant et flexible pour analyser la microstructure de surface des matériaux organiques et inorganiques. Ses composants et caractéristiques intégrés en font l'un des SEM les plus polyvalents disponibles sur le marché pour l'étude des microstructures et des caractéristiques topographiques.