Occasion LEO 435VP #185414 à vendre en France

LEO 435VP est un microscope électronique à balayage haut de gamme (SEM) produit par Zeiss. Il est capable de grossissements jusqu'à 500 000 x et dispose d'un système intégré de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. Cela aide à fournir de plus amples informations sur la structure physique d'un spécimen. LEO 435 VP a une source dynaFEG, qui est la dernière avancée dans la technologie de canon à électrons. Ceci améliore la luminosité et la stabilité du faisceau d'électrons, ce qui permet d'obtenir des images à plus haute résolution et des données spectroscopiques. Il est capable d'acquérir des images d'électrons secondaires ou des images d'électrons rétrodiffusées à des résolutions inférieures à 10 nm. Ce SEM a également un générateur de rayons X de haute intensité. Il est capable de détecter des éléments ayant une composition minimale de 0,2 % pour les analyses standard. L'inclusion d'un système EDS et d'un générateur de rayons X en font un outil idéal pour analyser les échantillons géologiques et biologiques. Pour améliorer la convivialité de l'opérateur, 435VP dispose d'une interface utilisateur simplifiée avec une suite complète de fonctions. Il a plusieurs paramètres pour modifier la résolution de l'image et le flux de particules. Il est ainsi plus facile d'ajuster le SEM de l'échantillon analysé. En outre, 435 VP dispose également de capacités d'automatisation avancées. Cela permet de répéter le même programme plusieurs fois avec une entrée minimale de l'opérateur. Il dispose également d'un système d'analyse intégré qui permet de détecter et d'identifier automatiquement les particules dans l'échantillon. Dans l'ensemble, LEO 435VP est un excellent choix lorsqu'il s'agit de scanner des microscopes électroniques. Son canon à électrons avancé et son générateur de rayons X produisent des images détaillées et des données spectroscopiques. Il dispose également de plusieurs paramètres automatisés et d'une interface utilisateur intuitive. Cela permet de réduire le temps d'intervention et d'améliorer la précision des expériences.