Occasion LEO 435VP #9079999 à vendre en France

LEO 435VP Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement d'imagerie haute performance qui combine une flexibilité maximale avec des performances optiques supérieures et une gamme étendue de capacités d'application. Le design compact de LEO 435 VP offre l'équilibre idéal de performance et d'abordabilité pour de nombreuses applications différentes. 435VP dispose d'un système optique multi-réservoir corrigé en front d'onde haute résolution, permettant une imagerie haut de gamme, même à faible KV et une profondeur de champ étendue. L'optique comporte également une tourelle motorisée pour permettre une stigmatisation variable, une variable. En outre, ce modèle permet une plus grande distance de travail, et dispose d'une procédure sans alignement qui permet un alignement rapide. Le microscope dispose également d'une unité d'imagerie numérique avec un canon d'émission de champ froid. Cette machine permet à la fois l'imagerie descendante continue et la commutation automatique, ainsi que le piquage d'image avancé et le suivi d'image. 435 VP utilise l'imagerie électronique à balayage basse tension, une technologie de pointe qui permet un échantillonnage dynamique tout au long de chaque balayage. Cette capacité permet une imagerie à plus haute résolution à de faibles niveaux de grossissement, conduisant à une image plus précise, atomiquement correcte. Le détecteur d'électrons à balayage est également monté sur un CAE alignable, permettant une flexibilité accrue pour une variété d'orientations d'échantillons. Cette fonctionnalité permet également de piquer des images, ce qui améliore la qualité de l'image. En plus de ses capacités d'imagerie avancées, LEO 435VP dispose également d'une variété de contrôles environnementaux. Cela comprend un outil de purification d'air réglable avec filtration intégrée des poussières, un actif d'isolation des vibrations et des réglages réglables de température, de pression et d'humidité. Cette gamme de paramètres environnementaux permet à l'utilisateur de maximiser les performances d'imagerie dans une variété de conditions de fonctionnement différentes. Dans l'ensemble, LEO 435 VP Scanning Electron Microscope est un modèle d'imagerie supérieur qui offre des performances élevées combinées avec une flexibilité maximale et des contrôles environnementaux robustes. Il est idéal pour une variété d'applications scientifiques, de la science des matériaux à la nanotechnologie. Avec ses excellentes performances optiques, son environnement réglable et ses lourdes capacités d'échantillonnage, 435VP est un choix idéal pour ceux qui recherchent un équipement SEM dédié.