Occasion LEO / ZEISS 1430VP #9259807 à vendre en France

LEO/ZEISS 1430VP est un microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour l'imagerie et l'analyse de petits échantillons tridimensionnels. Il offre des capacités de résolution extrêmement élevées dans l'imagerie et les mesures analytiques. Il est adapté à l'analyse détaillée des matériaux organiques et inorganiques dans la chambre d'imagerie à vide et à vide. Le canon à électrons de LEO 1430VP utilise un canon à émission de champ qui produit un faisceau d'électrons avec une haute résolution énergétique. Ce canon produit également un astigmatisme à faible faisceau, ce qui le rend idéal pour l'imagerie et les expériences de petite surface. Le canon peut fonctionner soit en mode basse tension pour l'imagerie et les observations, soit en mode haute tension pour les analyses, comme la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX), la spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde (WDS). ZEISS 1430VP est également équipé d'un filament de carbone pour l'étape in situ/température, permettant l'observation et l'analyse des propriétés des matériaux à des températures élevées. 1430VP offre une variété de modes d'imagerie, qui peuvent inclure l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (ESB) et la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM). Les images d'électrons rétrodiffusées sont recueillies sous un angle incliné ou nominalement normal au plan de l'échantillon. L'imagerie SEI peut être optimisée en utilisant la fonction d'inclinaison de scène. L'échantillon est scanné à l'aide d'un étage d'échantillonnage à grande vitesse, tandis que l'imagerie en temps réel permet aux utilisateurs de suivre les changements dans les propriétés de l'échantillon. LEO/ZEISS 1430VP est également équipé d'une gamme de détecteurs pour l'analyse élémentaire, y compris EDX, WDS, et la microscopie électronique à transmission filtrée d'énergie (EFTEM). EDX est utilisé pour détecter des éléments dans un échantillon avec une sensibilité allant de niveaux de traces jusqu'à plusieurs % de masse. WDS est utilisé pour détecter des éléments lumineux avec une sensibilité de quelques ppm. EFTEM est idéal pour observer des détails structuraux ou compositionnels très fins présents dans un échantillon. Les capacités analytiques de LEO 1430VP peuvent être étendues en utilisant une gamme de logiciels. Il s'agit notamment des outils de visualisation ZEISS 1430VP, 1430VP Data Analysis Software, LEO/ZEISS 1430VP Image Analysis et 3D Reconstruction Software. Tous ces logiciels sont conçus pour optimiser la collecte, le traitement et l'analyse des images SEM. Dans l'ensemble, LEO 1430VP est un microscope électronique à balayage avancé et performant, idéal pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons tridimensionnels. Son optique avancée, ses modes d'imagerie et ses détecteurs analytiques offrent une résolution exceptionnelle, tandis que ses logiciels automatisés optimisent la collecte et le traitement des données pour obtenir d'excellents résultats.