Occasion LEO / ZEISS 1440VP #9255473 à vendre en France

LEO / ZEISS 1440VP
ID: 9255473
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS 1440VP Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil de microscopie de pointe pour l'imagerie au niveau atomique. Ses capacités avancées permettent l'imagerie haute résolution grâce à son faisceau d'électrons basse tension. Cela le rend bien adapté aux applications sensibles qui nécessitent une imagerie à très haute résolution, comme l'analyse de défaillance de composants micro-électroniques. LEO 1440VP SEM est disponible dans les variétés 1kV et 5kV et permet des images de résolution maximale de 2nm. Il dispose également d'une conception de détecteur dans les lentilles, qui permet l'imagerie à grande vitesse avec un faible bruit. Cette conception fournit également un champ de vision exceptionnellement large, permettant l'imagerie de grands échantillons avec une distorsion minimale. En outre, le microscope est équipé d'un transmissiomètre pour l'alignement automatisé du faisceau d'électrons sur l'échantillon ou le détecteur de rétrodiffusion. Les autres caractéristiques du microscope électronique à balayage ZEISS 1440VP comprennent un mode d'imagerie à haute vitesse, qui permet aux utilisateurs de visualiser et d'analyser les images de manière accélérée. Cette fonctionnalité permet également de capturer plusieurs images avec des expositions très courtes tout en conservant une grande résolution. Le microscope supporte également une large gamme de détecteurs, lui permettant de capturer divers modes d'imagerie, tels que l'imagerie filtrée par l'énergie et la cartographie de la distribution élémentaire. 1440VP Scanning Electron Microscope est un puissant outil d'imagerie capable de produire des images haute résolution avec une sensibilité exceptionnelle. Son large éventail de caractéristiques le rend adapté à une variété d'applications, telles que l'analyse des défaillances, la cartographie de la distribution des éléments et l'analyse de la microstructure de matériaux et composants délicats. Ce SEM avancé et robuste rend possible l'analyse de microstructures complexes et constitue un excellent choix pour les scientifiques et les ingénieurs travaillant dans des domaines tels que l'électronique, la science des matériaux et la nanotechnologie.
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