Occasion LEO / ZEISS 1450 #9161452 à vendre en France
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ID: 9161452
Scanning electron microscope (SEM)
Electron source: Tungsten
Resolution:
2.5nm at 30kV (LaB6)
3.5nm @30kV (W)
5.5nm @30kV (BSD-VP mode)
Includes:
EDS
EBSD
Magnification range: 9x to 900000x
Probe current
1pA to 1uA Optibeam controlled
Accelerating voltage: 200 V to 30kV
Variable pressure: 1Pa to 400Pa
Detectors: Everhart thornley with VPSE / VPSE or BSD
Chamber: 300 mm x 270 mm x 224 mm (H)
5-Axis motorized stage:
X-Travel: 100 mm
Y-Travel: 125 mm
Z-Travel: 60 mm (35 mm motorized)
Rotation: 360° continuous
Tilt: 0° to 90°
Image processor resolution: Up to 3072 x 2304
Image processing:
Pixel averaging
Continuous averaging
Frame integration
Oil diffusion pump main vacuum
Roughing pump
~1999 vintage.
LEO/ZEISS 1450 microscope électronique à balayage (SEM) est un outil d'imagerie haute résolution qui utilise des électrons pour créer des images détaillées d'échantillons de différentes tailles et matériaux. LEO 1450 SEM fonctionne en générant un faisceau focalisé d'électrons qui est balayé sur l'échantillon à l'aide d'un système de déviation. En contrôlant l'angle d'incidence du faisceau, il est possible de générer une image tridimensionnelle de l'échantillon. Les électrons étant spécifiques à chaque élément, il est possible de créer des cartes élémentaires qui montrent les concentrations de chaque élément dans l'échantillon. ZEISS 1450 SEM est équipé de deux sources d'électrons qui fonctionnent avec des énergies allant jusqu'à 10kV et 30kV respectivement. Cela permet d'imaginer une large gamme de matériaux, y compris des isolants et des matériaux conducteurs. La résolution des images générées par la machine est également très élevée pour atteindre une résolution latérale allant jusqu'à 0,5nm et une résolution axiale allant jusqu'à 0,25nm. Par ailleurs, 1450 SEM est équipé d'une variété de détecteurs qui lui permettent de recevoir des signaux de l'échantillon. Il s'agit notamment d'une coupe de Faraday qui est utilisée pour mesurer le courant du faisceau, d'un compteur de scintillation utilisé pour détecter les rayons X de faible niveau d'énergie de l'échantillon, d'un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie (EDS) utilisé pour cartographier la composition élémentaire de l'échantillon, et d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) utilisé pour l'imagerie de la topographie de surface de l'échantillon. LEO/ZEISS 1450 SEM est également capable d'analyse quantitative qui implique la mesure de paramètres tels que la granulométrie, le volume, la porosité, l'épaisseur des films, la surface et la texture de surface. Il est également capable d'effectuer une analyse spectroscopique, permettant de mesurer diverses propriétés telles que la composition, les constantes optiques, l'impédance, les constantes diélectriques et le magnétisme. En conclusion, LEO 1450 SEM est un outil puissant qui est utilisé pour l'analyse et l'imagerie d'échantillons avec un large éventail de matériaux et de tailles. Il fournit des images haute résolution, analyse quantitative et analyse spectroscopique, ce qui en fait un outil inestimable pour la recherche et les applications industrielles.
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