Occasion LEO / ZEISS 1450EP #9284365 à vendre en France

ID: 9284365
Scanning Electron Microscope (SEM) Hard Disk Drive (HDD) removed.
LEO/ZEISS 1450EP est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une imagerie haute résolution d'échantillons pour des applications scientifiques, biologiques et médicales. L'instrument utilise une colonne électrostatique pour produire un faisceau d'électrons focalisé sur la surface de l'échantillon. Les électrons interagissent avec l'échantillon pour produire des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des rayons X. Ces signaux peuvent être détectés pour créer soit des images bidimensionnelles basse ou moyenne résolution, soit des images tridimensionnelles haute résolution. LEO 1450EP dispose d'une optique électronique LEO « In-lens » utilisant une technologie de détection et d'imagerie de pointe, un filtre à haute efficacité énergétique et une lentille magnétique à l'intérieur de la lentille. La conception de l'objectif réduit l'aberration et augmente la puissance de résolution. L'imagerie à l'intérieur des lentilles réduit l'espace nécessaire à l'ensemble de l'ensemble, tandis qu'un collecteur « champ de lumière » réduit encore la taille du canon à électrons haute tension. ZEISS 1450EP est équipé d'un système d'imagerie intégré, d'un module d'optique et d'un processeur d'image numérique, qui permettent ensemble une grande variété de capacités d'optimisation de contraste d'image et d'affichage. Le module optique comprend un filtre de réduction de contraste, un détecteur à haute tension et un profileur de faisceau d'électrons, pour un balayage plus précis contrôlé par contraste. Le processeur d'image numérique est capable d'acquérir une large gamme d'images, y compris des images ESB, SE, EBSD et CL. 1450EP a un champ de balayage maximal de 20mm et une surface de balayage minimale de 0,006mm. La plage de tension de l'optique électronique est de 0,5 à 30kV. L'instrument est équipé d'un étage de prélèvement automatisé (X, Y, R, T) et l'échantillon peut être manipulé avec précision pour le centrer sur le faisceau d'électrons. Des alignements automatisés sont possibles avec le logiciel « Smart Align » fourni, offrant une précision exceptionnelle pour la manipulation d'échantillons complexes. LEO/ZEISS 1450EP a une faible empreinte, nécessitant moins d'espace au sol que les SEM traditionnels, et est un outil idéal pour les applications de recherche et développement. Ses contrôles intuitifs permettent aux utilisateurs d'obtenir rapidement des images haute résolution, et le manipulateur automatisé de spécimens permet un alignement précis des échantillons avec les capacités de balayage et d'imagerie. LEO 1450EP est la solution idéale pour une large gamme d'applications d'imagerie et d'analyse de matériaux.
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