Occasion LEO / ZEISS 1450VP #293597117 à vendre en France

ID: 293597117
Scanning Electron Microscope (SEM) Variable pressure and high pressure modes Turbo pump THERMOCUBE 400 THERMOELECTRIC Chiller Dongle Titan-DIG MV Frame grabber PCB, CPL Stage control 6-Axis with program EO Board PCB Mains EDWARDS RV12 Roary pump Operating system: Windows 7.
Le microscope électronique à balayage LEO/ZEISS 1450VP est un appareil de laboratoire perfectionné et sophistiqué conçu pour agrandir et inspecter des images d'électrons à l'échelle nanométrique. En tant que microscope électronique à balayage (SEM), il permet aux utilisateurs de générer des images d'échantillons à très haute résolution, permettant l'observation de caractéristiques structurelles à l'échelle du nanomètre. LEO 1450VP est un SEM à « émission de champ », c'est-à-dire qu'il utilise une source d'électrons de type filament au lieu de matériaux adsorbés, ce qui permet une meilleure réponse des détecteurs, une résolution plus élevée et un système d'imagerie plus stable. Le SEM comprend un ensemble d'objectifs et de lentilles à travers lesquels les électrons passent lors du balayage du spécimen, créant une image qui est agrandie et améliorée en résolution. Cela peut permettre aux chercheurs d'observer de minuscules détails sur le spécimen, tels que les positions atomiques et les liaisons chimiques. La source d'électrons est capable de créer des résolutions d'imagerie à 0.75nm, et le microscope comprend également une colonne « secondaire » qui permet des résolutions encore plus élevées de 0.2nm. Cela peut fournir une image claire de même les plus petites caractéristiques, comme les atomes individuels et les molécules. Le SEM a également la capacité d'acquérir des électrons rétrodiffusés et secondaires, ce qui donne aux chercheurs un meilleur accès aux caractéristiques que les électrons primaires peuvent ne pas être en mesure de voir. En plus de la résolution, ZEISS 1450VP fournit également trois modes de fonctionnement de balayage basse et haute tension et de microscopie à filament de tungstène. Ces modes permettent de capturer à la fois des images de haute qualité et de grandes cartes d'un échantillon et de sa composition chimique, ainsi que de simuler les propriétés de transport d'électrons pour tester ou évaluer un système donné. Le SEM dispose également d'un mode « Brief Scan » propriétaire, qui peut rapidement obtenir des résultats étendus sans avoir besoin de manœuvres fastidieuses et prolongées. Pour assurer la plus grande précision possible, 1450VP comprend également un certain nombre de logiciels avancés qui peuvent contrôler toutes les fonctions du microscope. Le logiciel comprend une interface intuitive de balayage rapide, permettant aux utilisateurs de créer et réinitialiser rapidement une région d'intérêt et de commencer l'imagerie en quelques secondes. De plus, les fonctions d'alignement intégrées permettent aux utilisateurs de mesurer avec précision les dimensions physiques et d'évaluer rapidement et facilement l'exactitude de leurs résultats. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage LEO/ZEISS 1450VP est un outil incroyablement puissant et précieux pour tout laboratoire de recherche. Son utilisation peut permettre l'observation à l'échelle nanométrique et l'imagerie, donnant aux chercheurs un regard sans précédent sur les détails minuscules des caractéristiques moléculaires et atomiques. En tant que tel, il peut considérablement améliorer et accélérer le processus scientifique, en fournissant les résultats d'une clarté et d'une résolution auparavant impossible.
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