Occasion LEO / ZEISS 1450VP #293660400 à vendre en France

LEO/ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscope (SEM) est un équipement de haute performance conçu pour l'analyse complète des échantillons. Il dispose d'un système d'imagerie et d'analyse haute résolution avec une précision et une polyvalence améliorées par rapport aux générations précédentes de SEM. La chambre à spécimens LEO 1450VP est conçue pour contenir des spécimens jusqu'à 8 cm de diamètre. Il est capable de réaliser un profilage de profondeur non destructif, ainsi qu'une imagerie électronique secondaire et/ou rétrodiffusée. La colonne de ZEISS 1450VP est équipée d'un canon à émission de champ X-Line (FEG) ultra fiable d'une durée de vie de plus de 20 000 heures. Cette source de haute qualité assure 1450VP produit d'excellentes images électroniques secondaires, que la surface soit lisse ou rugueuse. Il a des paramètres de fonctionnement réglables pour ajuster l'intensité électronique au besoin. LEO/ZEISS 1450VP dispose d'un étage rotatif d'échantillon incliné/rotatif avec un étage de levage vertical intégré. L'étage inclinable facilite l'échantillonnage, tandis que la portance verticale augmente la flexibilité et la portée du fonctionnement du microscope. Des accessoires supplémentaires tels qu'une unité de superrésolution optique 3D Edmund Optics et un détecteur d'électrons secondaire contribuent à améliorer la précision et la précision des expériences d'imagerie. LEO 1450VP possède également un large éventail de capacités d'analyse, y compris l'analyse élémentaire, l'analyse de phase et l'analyse cristallographique. Sa machine EDX (Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy) permet la détection et la quantification d'éléments et de phases dans un échantillon. Il est livré avec un diffractomètre GADDS pour analyser la structure cristalline sur l'échantillon. ZEISS 1450VP dispose également d'un capteur de déplacement de haute précision qui détecte des mouvements d'échantillons aussi petits que 0,1 nanomètre. 1450VP a une variété d'options logicielles qui le rendent encore plus facile à utiliser. Sa suite logicielle Eagle comprend une interface GUI point-and-click, une bibliothèque de recettes d'imagerie SEM, et des outils d'analyse avancés. Sa fonction Smart Workflows permet aux utilisateurs de cibler rapidement et facilement le faisceau FEG pour une imagerie ou une analyse optimale. L'utilisabilité est également un facteur important dans la conception de LEO/ZEISS 1450VP. Il dispose de fonctions essentielles telles qu'une caméra vidéo, des commandes de commutateur de pied et un panneau de commande de vide. LEO 1450VP est également équipé d'un mécanisme de faille pour le faisceau d'électrons qui assure la sécurité des opérateurs et des spécimens. Doté d'un design robuste, d'une large gamme de fonctionnalités et d'un logiciel intuitif, ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscope est parfait pour les chercheurs qui cherchent à effectuer des analyses avancées pour la recherche sur les matériaux. Très flexible et polyvalent, il offre la plate-forme idéale pour une variété de besoins d'exploration et d'analyse d'échantillons.