Occasion LEO / ZEISS 1450VP #293755515 à vendre en France

LEO/ZEISS 1450VP Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant instrument d'observation et d'analyse de la surface d'un matériau jusqu'au niveau du nanomètre, permettant l'imagerie haute résolution et l'analyse topographique. Il comprend deux composants principaux principaux, la colonne électronique et l'équipement de détection. Le canon à électrons est composé d'une lentille de condenseur achromatique, d'une ouverture de condenseur, de lentilles objectives et d'un réseau de diffraction pour générer des électrons secondaires. Une colonne électrostatique comprend également un décalage électrostatique, et une chambre d'échantillon d'absorption. Le système de détection est relié à la colonne et est composé d'un détecteur électronique hémisphérique, qui permet de mesurer l'énergie, l'étalement angulaire et la rétrodiffusion des électrons. La tension d'accélération de LEO 1450VP SEM est variable, de 1 kV à 30 kV, et le courant est jusqu'à 300 μ A, permettant l'imagerie et l'analyse haute résolution ainsi qu'une large gamme d'observations. Le microscope permet un large éventail de modes d'imagerie, y compris le mode de pression variable (VP) pour les échantillons liquides, le mode de pression variable (VPS) pour les gaz, et le mode de microscopie électronique à balayage à pression variable (VP-SEM), qui offre la plus haute résolution. ZEISS 1450VP SEM est équipé d'un étage automatisé, qui permet le positionnement des échantillons avec la plus grande précision. Cette unité contrôle automatiquement le mouvement de l'échantillon en fonction des paramètres définis par l'utilisateur, tels que la vitesse de conduite, la direction et la position. Le microscope dispose également d'un basculement automatisé, qui permet de régler le positionnement des échantillons à la fois verticalement et horizontalement jusqu'à environ 90 °. La machine d'acquisition de données de 1450VP SEM comprend deux modes d'imagerie. Le premier est un mode à un seul point, qui permet la capture d'une seule image d'un champ de vue entier. Le second mode est un mode à plusieurs points qui permet à l'utilisateur de capturer plusieurs images d'un seul champ de vue. En outre, l'outil est conçu pour produire facilement des données numériques dans des formats tels que JPEG, TIFF, et des fichiers d'image BMP. LEO/ZEISS 1450VP SEM permet aux utilisateurs de capturer les données avec la plus grande précision et précision, ainsi que de fournir une gamme d'autres fonctions utiles telles que la couture automatisée des images et les montages. Cela fait du SEM un outil extrêmement utile pour les chercheurs qui cherchent à observer et à analyser des échantillons au niveau des nanomètres, et est bien adapté pour des applications en science des matériaux, en biologie et en géologie.