Occasion LEO / ZEISS 1450VPSE #293818689 à vendre en France

ID: 293818689
Style Vintage: 2002
Scanning Electron Microscope Electron Source: Tungsten hairpin filament Resolution: 3.5 nm at 30 kV (high vacuum), 5.5 nm at 30 kV (BSD-VP mode) Variable Pressure: 1 Pa to 400 Pa Accelerating Voltage: 0.2 kV to 30 kV Magnification: 9x to 900,000x Probe Current: 1 pA to Optibeam controlled Everhart Thornley SE detector Variable Pressure Secondary Electron (VPSE) detector Stage: 5-axis motorized (X=100mm, Y=125mm, Z=60mm, Tilt 0-90°, Rotation 360°) EDAX P7715 Energy‑Dispersive X‑ray Spectroscopy (EDS) System Turbo pump.
Le LE0LEO/ZEISS 1450VPSE est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir une analyse complète des échantillons petits et grands. Il s'agit d'un microscope polyvalent adapté à une grande variété d'applications dans la science, la recherche et l'industrie. LEO 1450VPSE utilise un système de microscopie électronique à balayage à pression variable (VPSE) pour obtenir des images et des mesures à très haute résolution et grossissement. Il combine une colonne électronique haute résolution avec un système de mouvement de précision à décalage automatique pour un environnement de surface d'échantillon optimal. La pression accordable permet d'utiliser le microscope dans les applications les plus exigeantes. La haute résolution de ZEISS 1450VPSE permet l'imagerie des micro et nanostructures. Les matériaux cristallins, amorphes et métalliques, même sous des formes compliquées, peuvent être imagés avec une haute définition en inversant la polarité de contraste. En outre, le microscope offre l'analyse des particules et des fibres, et la tomographie pour l'imagerie tridimensionnelle. 1450VPSE isequippedavec une large gamme de détecteurs pour produire une variété de modes d'imagerie pour répondre à des applications spécifiques. Le détecteur EDS ou EDAX permet une analyse élémentaire avec identification du matériau. Un spectromètre à rayons X dispersif énergétique (EDS) est utilisé pour identifier divers éléments de l'échantillon. Les détecteurs AES (Auger Electron Spectroscopy) et RBS (Rutherford Backscopy Spectroscopy) peuvent être utilisés pour mesurer l'épaisseur et la composition des couches minces. Un détecteur d'électrons rétrodiffusé (BSED) permet l'imagerie de caractéristiques topographiques, telles que les limites des grains, sans avoir besoin de revêtement. LEO/ZEISS 1450VPSE comprend également un étage XY entièrement automatisé pour faciliter l'alignement et la manipulation des échantillons. Une solution intégrée pour le fonctionnement à distance du microscope sur une connexion réseau est également disponible. Cette fonctionnalité permet aux utilisateurs de sélectionner et de créer des paramètres de mode d'imagerie à distance, et d'acquérir et de contrôler des images, même à partir de plusieurs sites. LEO 1450VPSE est conçu pour offrir aux utilisateurs finaux un maximum de productivité et un minimum de temps d'arrêt. Il est équipé de fonctionnalités intuitives qui permettent aux utilisateurs d'accéder directement à leurs tâches d'imagerie sans prendre le temps d'apprendre le logiciel. LE0ZEISS 1450VPSE est un microscope électronique à balayage puissant et fiable, offrant aux utilisateurs un outil complet et flexible pour mener des recherches.
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