Occasion LEO / ZEISS 1455 #293679343 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage LEO/ZEISS 1455 (SEM) est un instrument d'analyse utilisé dans divers domaines scientifiques pour obtenir des images à haute résolution de la surface d'un échantillon. Il est équipé d'une colonne de performance avancée et efficace, d'un détecteur de rayons X dispersant l'énergie et d'un système de vide, permettant une gamme de capacités d'imagerie avancées. LEO 1455 SEM utilise un faisceau focalisé d'électrons de haute énergie pour « scanner » la surface d'un échantillon. Une caractéristique unique et très puissante de cet instrument est la capacité de corriger l'aberration, une distorsion dans l'imagerie causée par la corrosion ou les dommages chimiques. Ceci permet au faisceau d'électrons de scanner avec précision des zones de l'échantillon difficiles à atteindre sans nuire à la qualité de l'imagerie. L'énergie des électrons est réglable, permettant l'imagerie détaillée de différents matériaux sur un échantillon ainsi que l'imagerie d'objets moins transparents. ZEISS 1455 est également livré avec un stigameter automatisé intégré, qui fournit une cartographie haute résolution de la topographie d'un échantillon. 1455 est équipé d'un détecteur spécial de rayons X dispersifs d'énergie (EDX), un composant important qui mesure les rayons X dispersés d'énergie émis par l'échantillon au fur et à mesure de son balayage. Ce détecteur est utilisé pour établir une carte élémentaire de l'échantillon, qui peut fournir une analyse de la composition de l'échantillon à très haute résolution. LEO/ZEISS 1455 est également équipé d'un système à vide élevé. Une puissante pompe d'appoint est incluse, assurant la meilleure performance possible sous vide et permettant une grande variété de surfaces et de profondeurs d'imagerie sans perte de qualité ou de résolution. LEO 1455 est un puissant microscope électronique à balayage pour des applications en science des matériaux, nanotechnologie, analyse chimique, et plus encore. Ses capacités d'imagerie avancées, associées à son correcteur d'aberration avancé, son détecteur EDX et son système de vide fiable, en font un excellent choix pour les chercheurs et les scientifiques qui cherchent à acquérir des images haute résolution et la composition élémentaire d'un échantillon.