Occasion LEO / ZEISS 1455VP #293764385 à vendre en France
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LEO/ZEISS 1455VP Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant instrument optique électronique utilisé pour amplifier des matériaux de quelques nanomètres à quelques millimètres. LEO 1455VP est conçu pour la performance, fournissant une variété de capacités analytiques telles que l'analyse élémentaire et l'imagerie à l'échelle nanométrique. ZEISS 1455VP dispose d'un canon à émission de champ (FEG) et d'un courant de sonde élevé fournissant un équipement d'imagerie haute performance avec une résolution inférieure à 1 nanomètre. Le SEM offre également trois courants de faisceau : faible, semi-élevé et élevé. Le courant de faisceau faible fournit un courant de faisceau faible au système, tandis que le courant de faisceau élevé permet la capture des images de plus haute résolution. L'instrument est bien équipé avec une variété de porte-spécimens et des étapes, permettant d'étudier une gamme d'échantillons. En outre, 1455VP dispose d'une unité de préparation de cryo intégrée au SEM, permettant l'imagerie d'échantillons à température d'azote liquide (LN2) pour la microscopie cryo-électronique (SEM). LEO/ZEISS 1455VP est équipé d'une variété de détecteurs qui le rendent adapté à différentes applications, telles que la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS), l'imagerie électronique secondaire (SEI), l'imagerie électronique rétrodiffusée (BSEI) et la cartographie des rayons X. La machine offre également une fonction d'auto-focus fine pour fournir une imagerie haute résolution. Dans l'ensemble, LEO 1455VP est un outil de pointe pour l'imagerie de structures à l'échelle nanométrique, l'analyse élémentaire et la génération d'images de caractérisation à l'échelle nanométrique. Sa source d'électrons FEG permet à l'utilisateur d'accéder à un courant de sonde élevé à différents courants de faisceau pour accéder à des images à plus haute résolution. La combinaison de ses différents détecteurs et de son outil de cryo-préparation le rend adapté à un large éventail d'applications.
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