Occasion LEO / ZEISS 1455VP #293777704 à vendre en France

LEO/ZEISS 1455VP est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie de routine et la recherche de la morphologie de surface et l'analyse des particules. Il est équipé d'un détecteur toujours thornique (ET) permettant l'imagerie haute résolution de surfaces non conductrices et d'un détecteur d'électrons à canalisation pour l'imagerie électronique secondaire à grande vitesse. Ce SEM dispose également d'un équipement à vide bas dans la lentille pour l'imagerie des matériaux isolants, et d'une source de haute tension pouvant atteindre 30 kV pour une plus grande profondeur de champ. LEO 1455VP utilise la microscopie électronique à balayage par émission de champ (FE-SEM), qui produit un courant accru par unité de surface que les autres systèmes SEM, permettant une excellente résolution d'imagerie. Le système FE-SEM utilise un filament de canon pour générer des électrons avec plus d'énergie que les canons thermioniques et est en mesure de fournir une sonde plus petite, plus focalisée pour la meilleure résolution possible. Ce microscope est équipé d'un détecteur Everhart-Thornley (ET) ultra haute résolution, permettant de détecter la résolution maximale de la surface de l'échantillon et la taille précise des particules. ZEISS 1455VP est également livré avec une unité d'accès visuel automatisé fournissant un positionnement précis et un contrôle de scène. Il contient une machine automatisée de capture d'image, permettant un stockage facile des données et une sélection d'image fiable. Le microscope est capable de produire des images numériques fixes et mobiles. 1455VP convient à de nombreux types d'imagerie, y compris l'imagerie tridimensionnelle de surface (3D FIB-SEM), l'imagerie de contrôle du gain et du contraste (ACE) et la génération de données de microanalyse des rayons X (EDX). Il dispose également d'un outil à faible vide permettant une facilité d'imagerie sur des surfaces non conductrices avec une diffusion minimale. LEO/ZEISS 1455VP est un équipement d'imagerie scientifique essentiel pour l'analyse d'échantillons dans la recherche industrielle, universitaire et médicale. Il peut fournir des images très détaillées des particules et des caractéristiques de surface permettant aux chercheurs d'identifier des caractéristiques qui peuvent être cachées par la microscopie conventionnelle. L'imagerie haute résolution et la facilité de préparation des échantillons en font un choix populaire pour les chercheurs qui ont besoin de capacités SEM haut de gamme.