Occasion LEO / ZEISS 1455VP #9089413 à vendre en France

LEO/ZEISS 1455VP Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'imagerie numérique polyvalent et puissant conçu pour une variété d'applications industrielles et de recherche. LEO 1455VP offre des capacités de résolution et d'analyse supérieures, permettant aux chercheurs d'obtenir des images de meilleure qualité, d'acquérir des mesures fiables et d'obtenir des aperçus dans le monde sub-microscopique avec plus de précision et de fiabilité. Ce SEM dispose d'une double lentille standard, double opération de vue permettant l'imagerie simultanée de surfaces d'échantillons et de sous-surfaces dans les modes à vide élevé et faible. Sa 15KV tension d'accélération permet la transmission d'électrons de haute qualité pour créer un balayage à haute résolution de la surface de l'échantillon à une échelle amplifiée qui n'est pas réalisable avec les microscopes à lumière. ZEISS 1455VP dispose également d'une grande chambre d'échantillonnage pour adapter une variété d'échantillons, et d'un détecteur EDS intégré pour l'analyse élémentaire. Des détecteurs multi-canaux de l'état de la technique sont disponibles pour améliorer encore la résolution des images acquises. 1455VP dispose d'une interface utilisateur intuitive et d'un grand écran tactile pour un meilleur contrôle des paramètres et de l'analyse des images. Ce SEM dispose d'un étage 3 axes pour le balayage et le positionnement automatiques des échantillons, permettant un réglage et un mouvement précis des échantillons. Par ailleurs, LEO/ZEISS 1455VP dispose d'un mode d'imagerie basse tension spécialisé pour l'imagerie d'échantillons non conducteurs sans effet de charge. Le nouveau LEO 1455VP fournit un logiciel personnalisé conçu pour une variété d'applications telles que l'imagerie à l'échelle nanométrique, l'analyse des défauts, la caractérisation de surface et la métrologie, l'analyse des matériaux et l'analyse des défaillances. Ce SEM offre une large gamme de fonctionnalités supplémentaires, y compris un étage d'inclinaison pour l'angle d'échantillon réglable, un insert de film mince pour l'imagerie de contraste élevé, et un objectif de réduction 10:1 pour la capture d'échantillons plus grands et des images amplifiées. En outre, pour les applications nécessitant l'EDD (Electron Microscope Diffraction) ZEISS 1455VP est équipé d'un système ESD intégré et d'un kit complet d'accessoires. Une caractéristique unique de 1455VP est le mode LEO M-View qui permet à l'utilisateur d'observer comment les images en fluorescence, balayage et microscopie électronique de transmission se comparent, créant des études complètes. LEO/ZEISS 1455VP SEM est un outil puissant capable d'offrir une résolution, une fiabilité et une précision accrues et de fournir aux utilisateurs les performances ultimes en microscopie électronique à balayage.