Occasion LEO / ZEISS 1530 #293624721 à vendre en France

LEO/ZEISS 1530 Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant équipement d'imagerie utilisé par les scientifiques et les instituts de recherche pour observer et analyser la microstructure des matériaux. Il produit des images haute résolution de la surface des échantillons avec des dimensions aussi petites que 0. LEO 1530 SEM est un instrument de table qui peut être utilisé pour identifier des caractéristiques aussi petites qu'un nanomètre (nm). Il intègre une source d'émission de champ Schottky (FE-SEM) qui permet à l'utilisateur d'obtenir des performances et une résolution d'imagerie supérieures. Le FE-SEM est conçu pour réduire les dysfonctionnements causés par les contaminants et d'autres facteurs externes, améliorant ainsi la qualité globale de l'imagerie. Le microscope électronique à balayage ZEISS 1530 a une plage de grossissement de 10x à 400.000x. Il comprend un appareil photo Edmund Type 563 qui peut prendre des images fixes numériques avec jusqu'à 16 millions de pixels de résolution. Cette caractéristique permet une analyse détaillée des parties de l'échantillon ainsi que des images de surface entières. Les images peuvent être enregistrées directement dans un fichier numérique pour une visualisation ultérieure ou pour un traitement ultérieur. D'autres caractéristiques de 1530 SEM comprennent un processeur d'image numérique qui est capable d'effectuer le traitement d'image sur jusqu'à quatre images simultanément. Il comprend également une diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et un détecteur annulaire de champ sombre (HAADF) à focalisation automatique. Ces deux caractéristiques améliorent la résolution et le contraste dans les images des échantillons. Le SEM comprend également une gamme d'options de contrôle de vide et d'environnement qui le rendent adapté à la recherche dans une variété de situations. Ceci comprend une chambre d'humidité, des plages de chauffage et le contrôle de la pression et de la composition de l'atmosphère. Ensemble, ces caractéristiques permettent à l'utilisateur de contrôler précisément l'environnement autour de son échantillon et de l'observer sous différents niveaux de contraintes ou de contraintes. Dans l'ensemble, LEO/ZEISS 1530 Scanning Electron Microscope est un outil d'imagerie extrêmement puissant et est un atout inestimable pour tout établissement de recherche. Avec son large éventail de caractéristiques, il est capable de fournir des images détaillées et l'analyse des caractéristiques microscopiques dans une variété d'échantillons.