Occasion LEO / ZEISS 1530 #293631668 à vendre en France

LEO/ZEISS 1530 est un microscope électronique multifonctionnel à balayage à émission de champ (FE-SEM) entièrement intégré. Il est conçu pour fournir une imagerie haute résolution des surfaces de particules et d'autres spécimens dans les domaines de la recherche et de l'industrie. Ce FE-SEM est équipé des dernières technologies telles que la diffraction rétrodiffusée des électrons, la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie, la microscopie électronique à transmission à balayage, la tomographie électronique et la microscopie basse tension, ce qui le rend adapté à un large éventail d'applications. LEO 1530 offre une combinaison exceptionnelle d'imagerie haute résolution et de capacités analytiques avancées. Ses performances nanométriques de haute précision lui permettent de fournir des images de particules crues et à haute résolution, dont les tailles vont de quelques nanomètres à plusieurs centaines de micromètres. Une source d'électrons refroidis à l'azote liquide auto-séchée fournit une imagerie à haute résolution stable et à long terme, tandis qu'un détecteur d'électrons secondaire et rétrodiffusé (BSED) automatisé permet de caractériser facilement les schémas de diffraction des électrons, les limites des grains et d'autres caractéristiques des échantillons. Le FE-SEM dispose également de capacités d'automatisation avancées, y compris une fonction d'auto-focus et un système automatisé de manipulation des échantillons qui permet un positionnement rapide et précis des échantillons. En outre, une variété de sondes spécifiques au site permettent aux utilisateurs d'acquérir rapidement des données à l'échelle nanométrique. ZEISS 1530 offre une variété de capacités d'analyse, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDX), la spectroscopie à perte d'énergie électronique (EELS) et la spectroscopie à photoélectronique à rayons X (XPS). En associant EDX et EELS à l'imagerie STEM, les utilisateurs sont en mesure d'analyser la composition élémentaire, l'énergie de liaison, la structure électronique et les longueurs de liaison d'un échantillon. Le système d'imagerie XPS offre également une couche supplémentaire d'information, permettant aux utilisateurs d'étudier la composition, l'état d'oxydation et l'environnement chimique d'un échantillon. 1530 dispose également d'un logiciel de pointe, qui comprend la capacité d'ajuster les paramètres d'imagerie pour une analyse optimale, effectuer des mesures automatisées, et générer différents types d'images de microscopie. En outre, ce logiciel offre une capacité d'imagerie 3D, permettant aux utilisateurs d'analyser les caractéristiques des échantillons sous différents angles. Ces fonctionnalités, combinées aux excellentes performances de LEO/ZEISS 1530 et aux capacités d'imagerie haute résolution, en font un outil idéal pour une large gamme d'applications à l'échelle nanométrique.