Occasion LEO / ZEISS 1530 #9244400 à vendre en France
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Vendu
ID: 9244400
Style Vintage: 1999
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Electron source: Schottky field emitter
Resolution:
1 nm @ 20kV (2 mm WD)
3 nm @ 1kV (2 mm WD)
Accelerating voltage: 200 V to 30 kV
Probe current: 4pA to 10nA
Magnification: 20x to 900,000x
E-T Secondary electron detector
High efficiency in-lens electron detector
ROBINSON BSD
IR Chamberscope
Eucentric 5-axis motorized stage:
X: 75 mm
Y: 75 mm
Z: 25 mm
Tilt: -15° to 90°
Rotate: 360°
Does not include EDX
No EDS
1999 vintage.
LEO/ZEISS 1530 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) qui exploite la puissance des électrons pour visualiser et analyser une grande variété de matériaux et d'objets dans des détails sans précédent. Construit par le géant optique LEO avec l'ingénierie de la célèbre société ZEISS, LEO 1530 a la sensibilité à l'image des atomes individuels et la résolution de découvrir des microstructures jusque-là invisibles. Au cœur de ZEISS 1530 se trouve un canon à électrons à émission de champ de 3,5 nm capable de produire à la fois des faisceaux d'électrons réguliers et des faisceaux de forme variable (VSB) pour une résolution plus élevée. Ce canon à électrons est équipé avec une gamme d'appareils de collection tels que les lentilles électrostatiques, les rouleaux magnétiques et les vaguelettes pour concentrer le rayon à un point de juste un fewMicrometers dans la grandeur. Cette caractéristique donne 1530 un niveau extraordinaire de détail et de précision lors de l'imagerie de petites structures. En plus de l'impressionnant canon à électrons, LEO/ZEISS 1530 est également équipé d'une large gamme de systèmes d'analyse et de détection. Il s'agit notamment d'un filtre à énergie avancée pour analyser la composition de l'échantillon et le collage, de détecteurs dédiés pour mesurer la charge induite par le faisceau d'électrons et d'un détecteur secondaire pour l'imagerie électronique secondaire. Cette suite de composants ouvre des possibilités passionnantes pour la caractérisation des matériaux avancés. LEO 1530 utilise également des technologies innovantes de colonne électronique qui permettent de contrôler l'angle du faisceau et de réduire la diffusion des électrons. Cela améliore la résolution globale de l'instrument et lui donne la capacité d'imaginer des caractéristiques plus petites et plus détaillées telles que la topographie de surface. L'analyse externe peut être effectuée avec les systèmes de spectrométrie de masse et de rayons X du SEM. Ce sont des composants clés pour mesurer la composition chimique des échantillons et ZEISS 1530 est équipé d'une vaste gamme de détecteurs pour obtenir des lectures précises. Le paquet est complété par une interface utilisateur graphique intuitive et facile à utiliser qui est conçu pour profiter des capacités impressionnantes d'imagerie et d'analyse de 1530. Cette interface graphique intuitive permet à l'utilisateur de définir et d'ajuster une grande variété de paramètres, ainsi que de profiter des flux de travail automatisés. Dans l'ensemble, LEO/ZEISS 1530 est un microscope électronique à balayage exceptionnel qui fournit de superbes capacités d'imagerie et d'analyse pour ses utilisateurs. Avec son canon à électrons de pointe et sa gamme de détecteurs et de systèmes d'analyse, LEO 1530 offre une précision et une résolution inégalées lors de l'imagerie de matériaux et d'objets. Cela en fait un instrument idéal tant pour la recherche que pour les applications industrielles où la haute résolution est primordiale.
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