Occasion LEO / ZEISS 1530 #9293309 à vendre en France
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ID: 9293309
Taille de la plaquette: up to 6"
Style Vintage: 2011
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM), up to 6"
Detectors: In-Lens, SE, and BSE
Accelerating voltage: 0.2 kV to 30 kV
X / Y / Z Axes motorized stage
2011 vintage.
LEO/ZEISS 1530 est un microscope électronique à balayage polyvalent et à forte puissance (SEM). Ce modèle est adapté à un large éventail d'applications, y compris la biologie, la science des matériaux, la nanotechnologie et la recherche sur les semi-conducteurs. Sa composante centrale est un détecteur d'électrons secondaires (SE) dans la lentille, qui fournit des images présentant une profondeur exceptionnelle de focalisation, de résolution, de contraste et de sensibilité de l'échantillon. La configuration du détecteur permet également de collecter des électrons rétrodiffusés (BEs) à l'aide d'un détecteur hyperbolique ou à angle bas multiple. LEO 1530 utilise un système de lentilles électroniques à champ froid (CFEL) pour améliorer les performances et la fiabilité. Il dispose d'une tension d'accélération maximale de 30 kV et d'une tache de 1,5 nm. La combinaison du système CFEL et du détecteur SE dans la lentille permet d'augmenter considérablement le courant du faisceau et d'améliorer le contraste de l'image électronique rétrodiffusée. Le microscope est programmé avec une interface graphique complète et facile à utiliser, qui permet aux utilisateurs de contrôler intuitivement le microscope et d'analyser les résultats. ZEISS 1530 est extrêmement polyvalent en ce sens qu'il est compatible avec une large gamme de porte-échantillons et d'étapes. Il peut accueillir des échantillons petits et délicats, y compris des cellules simples, des liquides et des échantillons qui nécessitent des conditions environnementales particulières, telles que des températures et/ou une pression basses. De plus, l'instrument est équipé de plusieurs étapes automatisées qui permettent aux utilisateurs de réévaluer les zones d'intérêt lorsqu'ils opèrent à fort grossissement. 1530 offre également une gamme de fonctionnalités et d'options qui feront appel à une variété d'applications de recherche. Il est équipé d'un spectromètre dispersif d'énergie aux rayons X pour l'analyse élémentaire et d'un détecteur sans fenêtre qui fournit des images à plus haute résolution. Il offre également l'imagerie haute vitesse, la manipulation et la surveillance d'échantillons en direct, et le logiciel de reconnaissance de motifs. En conclusion, LEO/ZEISS 1530 est un SEM avancé et fiable capable de résoudre des détails jusqu'à l'échelle nanométrique. Il est conçu pour des utilisateurs allant des chercheurs débutants aux scientifiques expérimentés, et sa gamme complète de fonctionnalités lui confère une grande polyvalence.
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