Occasion LEO / ZEISS 1550 #293636318 à vendre en France

LEO/ZEISS 1550 Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument polyvalent équipé d'une technologie de pointe utilisée pour l'imagerie et l'analyse. La colonne électronique de LEO 1550 SEM est équipée d'un canon à électrons Schottky, d'un canon à émission de champ (FEG) et d'une vue en pointe composite en tungstène. Il comprend également un équipement à vide élevé pour maintenir le faisceau d'électrons sous un vide ultra-élevé à des pressions de fonctionnement de 10-8 Pa. Ceci garantit le rendement de signal le plus élevé et une résolution d'image optimale. Le système optique de ZEISS 1550 SEM comprend un microscope électronique à transmission à balayage haute résolution (S/TEM), un détecteur d'électrons secondaire et rétrodiffuseur (BSD), un détecteur de particules chargées et un détecteur de rayons X. Le mode S/TEM fournit une grande profondeur de champ, lui donnant la capacité d'imagerie de matériaux à des grossissements plus élevés. En plus de l'imagerie, l'unité peut également être utilisée pour analyser des éléments d'échantillons par spectroscopie X dispersive d'énergie (EDX) ou par spectroscopie X dispersive de longueur d'onde (WDX) fournissant des résultats qualitatifs et quantitatifs. 1550 SEM permettent aux utilisateurs d'effectuer une grande variété de tâches d'imagerie et d'analyse. La machine peut être utilisée pour examiner la topographie de surface à des grossissements élevés, les caractéristiques submicroniques et même l'analyse nanométrique. Il fournit également une analyse tridimensionnelle des structures et des interfaces, une approche tomographique numérique 3D des matériaux nanométriques, et une imagerie simultanée de la composition chimique et du contraste d'image - permettant aux utilisateurs d'identifier facilement différents éléments dans un échantillon et d'analyser avec précision leur distribution. LEO/ZEISS 1550 SEM offre également des options avancées de support matériel, y compris la grande température de la chambre de travail, l'imagerie réglable en hauteur de table, l'imagerie automatisée de grands échantillons, la traversée motorisée et programmable, et de grandes capacités de chargement d'échantillons pour l'imagerie automatisée de grand nombre de pièces identiques. LEO 1550 SEM inclut même des capacités d'automatisation de flux de travail et des options de support logiciel, permettant aux utilisateurs d'accéder et de gérer de grands volumes de données avec une interface utilisateur efficace et intuitive. Pour garantir une performance et une précision d'imagerie optimales, le SEM dispose d'un outil entièrement automatisé de reconnaissance des fonctionnalités (AFR), d'un atout de détection des effets d'imagerie et d'un modèle d'analyse des contraintes. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage ZEISS 1550 offre des capacités d'imagerie et d'analyse complètes pour répondre à une grande variété d'applications. Cela en fait un équipement idéal pour la recherche et le développement, le contrôle de la qualité et l'analyse des défaillances.