Occasion LEO / ZEISS 1560 #9030580 à vendre en France
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Vendu
ID: 9030580
Style Vintage: 2004
FE Scanning electron microscope, (SEM)
Dedicated chiller
Pumps
Gemini column technology
Operating System: Windows 7 Ultimate, English
Software Version: Smart SEM v05.05
Facilities Requirements
Power: 230 -15% + 10%, 50/50 Hz, 1 Ph
Consumption: 3 to 5 KVA
Cooling water: 2 L/min at 2 Bar, 18°-22°C ± 0.5°C
Compressed nitrogen: 2 L/min at 0.2 Bar
Nitrogen quality: 4.6, >99.996% Nitrogen content
Compressed Air: 6 Bar
Environmental Requirements
Ambient temperature: ~22°C ± 5°C, ±1°C stability
Relative humidity: < 65%
Floor vibration: Less than 2 um/sec for < 15 Hz, Less than 20 um/sex for > 15 Hz
Magnetic stray fields: Less than 3 mG peak to peak at 50/60 Hz
Acoustic noise: Less than 55 dBA for > 100 Hz, Less than 40 dBA for < 100 Hz
Currently installed
2004 vintage.
Le microscope électronique à balayage LEO/ZEISS 1560 est un instrument d'analyse et d'imagerie à haute performance. Il combine une excellente résolution et une facilité d'utilisation, permettant aux utilisateurs d'obtenir des images précises et contrastées de petits échantillons complexes. Le microscope dispose d'un équipement numérique de traitement du signal et de capture d'image, combinant un canon à électrons haute performance, des objectifs à haute résolution, un détecteur d'électrons secondaire spécial et un processeur d'image numérique. L'optique électronique de LEO 1560 fournit la résolution et la définition d'image les plus élevées, permettant l'étude des caractéristiques nano-échelle avec d'excellents détails et contraste. En utilisant un système de contrôle avancé, les utilisateurs de ZEISS 1560 ont accès à une suite de fonctionnalités et de fonctions avancées, y compris le courant de faisceau variable, la tension et la taille du spot, des grossissements plus élevés jusqu'à 500 000 x, des outils d'analyse tels que EDS et EDX, et une gamme d'options de traitement d'image numérique. En outre, la flexibilité de l'unité électronique de balayage permet une meilleure imagerie des échantillons isolants et conducteurs sans nécessiter d'étages et d'accessoires supplémentaires, tandis que les mouvements d'étages surdimensionnés permettent de positionner plus facilement des échantillons pour une imagerie optimale. 1560 dispose également d'une conception ergonomique, avec des commandes intuitives et une machine informatique intégrée, ainsi qu'une vaste gamme de logiciels de support, permettant des interfaces utilisateur différentes et la facilité d'accès. Tout cela est associé à un outil complet pour le stockage d'images, fournissant l'annotation automatique et le contrôle de qualité. Dans l'ensemble, LEO/ZEISS 1560 est un excellent outil pour une large gamme d'applications d'imagerie et d'analyse, allant de l'analyse des défauts et de l'analyse des défaillances à la caractérisation des matériaux et au contrôle de la qualité. Il combine la haute résolution avec la facilité d'utilisation, permettant aux utilisateurs de produire des images de contraste élevé d'échantillons complexes et étudier les caractéristiques nano-échelle avec le détail.
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