Occasion LEO / ZEISS 1560 #9067762 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage LEO/ZEISS 1560 (SEM) est un appareil de microscopie avancé permettant d'analyser en détail les surfaces et les structures sous-superficielles des matériaux. Le système à clé en main entièrement intégré offre des fonctionnalités de pointe telles que l'imagerie électronique secondaire (SE) de haute qualité, la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour la cartographie et l'analyse élémentaires et les capacités de faisceau d'ions focalisé automatisé (FIB). LEO 1560 dispose d'un détecteur SE, d'un détecteur EDXS multi-ordres et d'un détecteur Tomographie ESI. Le détecteur SE est un détecteur électronique secondaire qui offre diverses résolutions et de grandes échelles d'imagerie pour un large choix d'applications. Le détecteur EDXS permet à l'utilisateur d'effectuer des analyses élémentaires sur une gamme de matériaux en visualisant leur distribution et leur abondance relative. Le détecteur de tomographie ESI fournit des reconstructions tomographiques d'échantillons en trois dimensions permettant ainsi aux utilisateurs de mieux comprendre les structures des échantillons. ZEISS 1560 dispose d'une colonne de faisceau d'ions automatisée, permettant aux utilisateurs de couper et de graver des échantillons. La colonne comprend un fil d'impact oscillant qui permet la gravure de précision et l'incision dans même les échantillons les plus critiques. Le canon à ions offre également une imagerie haute résolution en permettant l'imagerie de plusieurs couches de matériau avec facilité. 1560 comprend une plate-forme d'image numérique fournissant une suite d'outils logiciels puissants pour analyser et organiser les résultats, y compris la segmentation rapide des images. Cet ensemble comprend également une analyse de la taille des particules et un outil de calcul de la moyenne des particules pour l'analyse avancée des applications. LEO/ZEISS 1560 SEM utilise une unité de vide entièrement fermée avec une variété d'accessoires de préparation d'échantillons en option pour des performances d'imagerie optimales. La machine d'éclairage haute performance offre une luminosité élevée, un champ de vision large et des détails d'image supérieurs tandis que l'étape avancée de positionnement de l'échantillon fournit un mouvement de précision pour une étude améliorée de l'échantillon. Enfin, LEO 1560 SEM est compatible avec une variété d'accessoires d'imagerie et d'analyse qui peuvent être facilement ajoutés pour augmenter sa fonctionnalité. ZEISS 1560 SEM est un outil robuste et fiable qui offre des fonctionnalités avancées et des fonctionnalités puissantes pour une variété d'exigences d'application. Il offre une large gamme d'automatisation et de mobilité, permettant aux utilisateurs de recueillir rapidement et avec précision les données et les résultats. Ce microscope électronique à balayage haute performance est un outil de recherche inestimable pour les laboratoires du monde entier.