Occasion LEO / ZEISS 1560 #9272757 à vendre en France

LEO/ZEISS 1560 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil polyvalent et fiable qui permet aux utilisateurs d'observer et d'analyser des échantillons avec des grossissements élevés allant jusqu'à 250 000 x. C'est un SEM haute performance et basse tension qui dispose d'un système sur axe avec une excellente profondeur de champ et de résolution, ce qui en fait l'outil de choix pour de nombreux chercheurs et techniciens. LEO 1560 SEM dispose d'un canon à émission de champ Schottky, fournissant une solution moderne à l'optique électronique et des rapports signal à bruit améliorés. Il a une taille variable de 0,2 à 10 µm2 pour l'imagerie et l'analyse à haute résolution. Ce SEM propose également un détecteur d'électrons secondaires à segmentation multiple Everhard-Thornley pour une analyse élémentaire précise. En outre, ZEISS 1560 dispose d'une chambre intégrée pour le revêtement des pulvérisateurs, et le canon peut être équipé d'un détecteur de rétrodiffusion de 2mm, lui permettant d'effectuer une variété de modes d'imagerie et de détecteurs. Pour l'imagerie, 1560 SEM peuvent utiliser diverses techniques pour explorer des surfaces et des caractéristiques de spécimens. Il s'agit de l'imagerie électronique secondaire, de l'imagerie par contraste de phase, de l'imagerie électronique rétrodiffusée, de l'imagerie manuelle et automatisée par inclinaison, de la stigmatisation et de l'imagerie en champ sombre, et de la cartographie des rayons X dispersifs en énergie. De plus, la précision de ce SEM permet l'imagerie 3D avec topographie, profils de lignes, analyse de particules et mesures de surface automatisées. LEO/ZEISS 1560 SEM offre également une flexibilité accrue pour la conception d'expériences. Il dispose d'un joystick numérique, permettant la navigation manuelle de spécimens tout en observant les images SEM en direct. De plus, une étape de balayage facultative peut être ajoutée, permettant un balayage et un enregistrement automatisés dans plusieurs modes. Il permet également divers angles d'inclinaison, ce qui le rend parfait pour les investigations transversales. Enfin, LEO 1560 SEM offre une interface de contrôle conviviale avec plusieurs fonctionnalités et fonctionnalités opérationnelles. Il est équipé d'un programme Autofocus, d'une bibliothèque prédéfinie avec un certain nombre de paramètres, d'un système de mesure d'angle et d'un système de récupération automatisé. Cela garantit que le SEM peut rester sûr et fiable pendant le fonctionnement. Toutes ces fonctionnalités font de ZEISS 1560 SEM un outil inestimable pour obtenir des images et des données détaillées et précises pour une gamme de besoins de recherche et industriels.