Occasion LEO / ZEISS 430i #9407378 à vendre en France

LEO/ZEISS 430i Scanning Electron Microscope (SEM) est un appareil d'imagerie FIB/SEM à double faisceau à haute performance. Alliant la résolution de pointe de l'industrie et la capacité d'image et de manipulation de structures nanométriques, LEO 430i SEM facilite une large gamme d'applications d'analyse de matériaux. Il dispose d'une colonne haute définition pour les capacités d'imagerie jusqu'à une résolution de 1 nanomètre, et son système de double faisceau cathode/anode haute puissance avancé permet un fonctionnement multi-mode pour la caractérisation avancée et la manipulation de très petits objets. La colonne SEM est conçue pour faciliter l'imagerie haute résolution tout en offrant la souplesse requise pour travailler avec une variété de tailles et de types d'échantillons. ZEISS 430i est équipé d'un détecteur d'électrons secondaires (SE), d'un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) et d'un détecteur d'analyse chimique avec un canon à émission de champ permettant une imagerie rapide. Une unité d'injection de gaz (SIG) est incluse, permettant l'introduction de gaz fonctionnels lors de l'imagerie et de la manipulation au besoin. Le fonctionnement multi-modes de 430i est activé par sa configuration VP/LV (Variable Pressure/Low Vacuum). Cela permet une caractérisation avancée des matériaux difficiles à images où l'environnement peut être manipulé pour permettre l'imagerie haute résolution. Le mode VL fournit un environnement à faible énergie pour l'imagerie de particules, de films à drainage lent ou de films avec des sections plus épaisses qui nécessiteraient une plus grande dose d'électrons dans un vide plus élevé. LEO/ZEISS 430i est livré avec un étage de rotation à 360 degrés et un étage d'échantillonnage à 6 axes avec une manipulation dans le plan et hors plan qui permet une imagerie et une manipulation faciles de régions spécifiques d'intérêt. En outre, il est livré avec une variété de modes de contrôle tels que la mise au point automatique, la stigmatisation automatique et l'exposition automatique, fournissant aux utilisateurs un contrôle complet sur l'environnement d'imagerie. LEO 430i peut être intégré avec une variété de systèmes automatisés de manutention d'échantillons pour encore plus de flexibilité. En résumé, LEO 430iScanning Electron Microscope est une puissante machine d'imagerie FIB/SEM à double faisceau capable de fournir une imagerie haute résolution et la manipulation d'objets nanométriques. Sa colonne sophistiquée et son outil SIG permettent la manipulation de l'environnement d'imagerie pour une variété de matériaux, tandis que ses modes de contrôle et ses systèmes automatisés de manipulation des échantillons offrent aux utilisateurs la flexibilité nécessaire pour toute application analytique.