Occasion LEO / ZEISS 435VP #293651569 à vendre en France

LEO / ZEISS 435VP
ID: 293651569
Scanning Electron Microscope (SEM).
LEO/ZEISS 435VP est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour des performances avancées et analytiques. Cet instrument de pointe est équipé d'un large éventail de caractéristiques, telles qu'une source d'électrons sous-nanomètres à haute résolution, à émission de champ, un détecteur d'électrons rétrodiffusé et un détecteur d'électrons secondaire, et un équipement à double faisceau à fort grossissement. Il est idéal pour des applications de recherche avec des échantillons difficiles, tels que des plaquettes semi-conductrices, des films minces et des échantillons biologiques. LEO 435VP est capable de fournir des images très détaillées avec un excellent contraste, permettant aux utilisateurs d'identifier et de visualiser les caractéristiques micro et nano-échelle d'un échantillon. Il dispose d'un design modulaire de pointe, avec une série d'accessoires et de détecteurs facilement interchangeables, qui permettent aux utilisateurs de personnaliser leur instrument en fonction de leurs besoins spécifiques. Pour une conservation supérieure des échantillons, ZEISS 435VP dispose également d'une chambre basse dépression, qui aide à maintenir une pression basse et stable tout en évitant les forts courants d'air et l'oxydation. Ceci, en combinaison avec ses capacités d'imagerie avancées, fait de 435VP un instrument idéal pour la recherche analytique. Outre ses performances d'imagerie, LEO/ZEISS 435VP est également équipé d'une suite d'outils logiciels automatisés pour un fonctionnement et une analyse faciles. Il s'agit notamment d'un système semi-automatisé d'optimisation des images (SAIOS), d'une unité d'acquisition d'images en temps réel (RTAIS) et d'un pilote automatique de machine à double faisceau (DBSA). SAIOS permet aux utilisateurs d'ajuster rapidement plusieurs paramètres, tels que la luminosité et le contraste, pour maximiser la qualité d'image. RTAIS fournit une rétroaction en temps réel sur les paramètres du SEM, permettant aux utilisateurs de faire des ajustements instantanés à leur outil d'imagerie. DBSA optimise les paramètres d'imagerie à double faisceau pour obtenir la meilleure performance globale. Dans l'ensemble, LEO 435VP est un microscope électronique à balayage avancé et équipé de fonctionnalités, idéal pour les applications de recherche qui nécessitent des performances d'imagerie de haute qualité et des options de détection personnalisables. Sa conception modulaire, ses outils logiciels automatisés et ses fonctions spécialisées de conservation des échantillons en font un instrument scientifique puissant et fiable.
Il n'y a pas encore de critiques