Occasion LEO / ZEISS 435VP #9255854 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage LEO/ZEISS 435VP est un instrument à haute performance conçu pour offrir des capacités d'imagerie et des performances analytiques supérieures. Il est particulièrement bien adapté pour l'imagerie et l'analyse de la résolution de structure nanométrique. Ce microscope utilise une source d'électrons d'émission de champ qui a été conçue pour offrir une meilleure luminosité électronique, de plus grandes valeurs de transmission et une durée de vie significative de la colonne. En conséquence, le microscope offre une résolution impressionnante allant jusqu'à 10 nm à des niveaux de courant de sonde élevés. L'échantillon peut être placé sur un insert porte-échantillon qui permet la manipulation de l'échantillon. L'orientation lors de l'analyse est assurée par un étage motorisé automatique à 6 axes et des mouvements complexes peuvent être réalisés avec un mouvement piézo haute résolution. L'étage est capable de déplacer l'échantillon à la fois en linéaire ou en rotation autour de l'axe vertical, de l'axe horzontal ou d'un troisième axe défini par la direction normale. Les utilisateurs du système peuvent utiliser une variété de détecteurs pour capturer des images. Le détecteur d'électrons transmis peut capturer des images dans les électrons rétrodiffusés et secondaires pour obtenir le contraste de la surface et du volume de l'échantillon. On peut également observer des électrons rétrodiffusés avec un détecteur d'électrons secondaire. Ces caractéristiques sont complétées par des détecteurs STEM pour l'imagerie en champ lumineux ou sombre ou une combinaison des deux. Le microscope est en outre équipé d'un système d'imagerie numérique automatisé et de capacités d'alignement automatique. Cela facilite la documentation d'imagerie avec la caméra intégrée incluse et la création de boucles de montage de films. Le système a également une vitesse de balayage réglable allant jusqu'à 500 Hz, donnant à l'utilisateur la possibilité de simuler la résolution de structure microscopique optique. Pour les capacités d'analyse, le microscope utilise un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire, ce qui permet à l'utilisateur d'identifier la composition chimique ou l'épaisseur de diverses caractéristiques de l'échantillon. La combinaison de l'imagerie à fort contraste et des capacités avancées du microscope électronique à balayage LEO 435VP en fait un outil précieux pour la recherche et l'analyse à l'échelle nanométrique.