Occasion LEO / ZEISS Gemini 1550 #9213551 à vendre en France

LEO/ZEISS Gemini 1550 est un système mondial de microscope électronique à balayage (SEM). Cet instrument offre la plus haute résolution et la meilleure qualité d'imagerie dans les modes électronique de réflexion et de balayage. Il utilise un puissant faisceau d'électrons primaires pour générer une gamme de topographies, d'images, de cartes élémentaires et de spectres qui capturent avec précision les propriétés de l'échantillon étudié. LEO Gemini 1550 est configuré avec la technologie Incident Wavevector Analysis (IWA), l'étape d'échantillonnage améliorée, et plusieurs modes d'imagerie, ce qui en fait le choix idéal pour de nombreuses applications de semi-conducteurs, de science des matériaux et de métallurgie électronique. Il combine plusieurs technologies de pointe, dont la commande de balayage à quatre axes pour des précisions élevées, un éclairage variable et un contraste de couleur variable dans le même cadre. L'instrument est équipé d'un pistolet à ions pour les échantillons minces, d'un mode à vide faible pour les échantillons non conducteurs et d'une polarisation variable pour l'analyse des échantillons cristallins et polycristallins. De plus, le système offre une gamme de fonctions incluant la fonction auto-focus, les modes de numérisation, la cartographie EDS avec focalisation automatique, la haute précision et la cartographie de surface. Son traitement d'image numérique avancé et l'acquisition de données en temps réel optimisent la qualité d'image et fournissent une analyse en temps réel des images. L'offre supplémentaire comprend des mesures in situ de temps et de microstructure pour caractériser efficacement l'échantillon. De plus, l'instrument est livré avec une gamme de dispositifs périphériques pour faciliter la préparation des échantillons, tels qu'un système de lithographie par faisceau d'électrons, un changeur/chargeur automatique d'échantillons Leptucopia et une source d'ions. Dans l'ensemble, ZEISS Gemini 1550 est un instrument puissant adapté à de nombreuses applications avancées de microscopie électronique. Il allie polyvalence, haute résolution, flexibilité et facilité d'utilisation avec ses fonctionnalités avancées et ses périphériques de grande envergure. Ces caractéristiques garantissent la plus grande précision dans les modes de microscopie mécanique et électronique.