Occasion LEO / ZEISS Supra 40P #293644038 à vendre en France

ID: 293644038
Scanning Electron Microscope (SEM) Water cooling system: Coolant flow rate: 1.3 l/min Coolant temperature: 20°C Compressed air pressure: 8 bar Gas pressure: 3500 mbar Damping / Anti-vibration system Gauges Column chamber valve Turbo isolation valve Vacuum: Specimen chamber vacuum pressure: 1.03E^-6 mbar UHV Chamber vacuum pressure: 2.2E^-10 mbar Scroll pump Turbo pump Control panel / Dual joystick Touch alarm Stage drift InLens Detector SE Detector 4QBS Detector VPSE Detector CCD Camera Cathode head FE Cathode Filament heating and extractor currents: Filament age: 18051.84 Hours Extractor voltage at 0.2 mA/sr: 4.3 V Total current at 0.2 mA/sr: 394 µA Extractor current at 10 kV: 389 µA Specimen current: 190 µA Beam shift: Standard shift: ±7.5 µm Width: 8.5 mm Acceleration voltage: 20 kV Scan rotation: 360°C Dynamic focus and tilt angle correction Beam blanking PC Operating system: Windows XP.
LEO/ZEISS Supra 40P est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la recherche et les applications industrielles. Il combine une polyvalence remarquable, des caractéristiques pratiques et une technologie de pointe pour obtenir une imagerie nette, une résolution de surface uniforme élevée et des résultats fiables. LEO Supra 40P offre une gamme de fonctionnalités pour l'imagerie 2D et 3D, en utilisant un canon d'émission de champ « Zero-Dimple » et un détecteur SE Everhart-Thornley de 30 W. Il dispose d'un filtre avancé fonctionnant avec un système de levage motorisé et des commandes numériques. Le système est conçu avec une gamme d'échantillons ergonomiques et une nouvelle colonne enduite de titane pour une stabilité maximale. ZEISS Supra 40P présente une résolution impressionnante pouvant atteindre 1,6nm avec une technologie de filtre numérique de pointe. Cette fonctionnalité intégrée au logiciel améliore la capacité du microscope à représenter les détails les plus fins sur la surface de l'échantillon avec précision et clarté. Un nouveau filtre d'énergie permet à l'utilisateur de sélectionner parmi 12 éléments différents et l'imagerie intégrée au logiciel traite les signaux du canon à électrons pour assurer un champ d'imagerie parfaitement cohérent. Le détecteur d'électrons secondaire avancé Everhart-Thornley fournit une imagerie 3D très détaillée des structures même à l'échelle du nanomètre. Ce détecteur fonctionne également avec le filtre d'énergie pour simuler l'imagerie en champ lumineux et permet aux utilisateurs de voir à travers même les matériaux les plus sombres. Cela réduit également le risque d'imagerie des artefacts et réduit la nécessité d'une préparation coûteuse des échantillons. Supra 40P comprend également plusieurs autres fonctionnalités automatisées, dont un système de traitement des échantillons à faible vibration, un traitement d'imagerie à distance et même un manipulateur robuste. Sa capacité d'imagerie impressionnante et ses fonctionnalités complètes le rendent idéal pour une variété d'applications. Il est fiable, efficace et donne des résultats cohérents.
Il n'y a pas encore de critiques