Occasion LEO / ZEISS Supra 40P #293644038 à vendre en France
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ID: 293644038
Scanning Electron Microscope (SEM)
Water cooling system:
Coolant flow rate: 1.3 l/min
Coolant temperature: 20°C
Compressed air pressure: 8 bar
Gas pressure: 3500 mbar
Damping / Anti-vibration system
Gauges
Column chamber valve
Turbo isolation valve
Vacuum:
Specimen chamber vacuum pressure: 1.03E^-6 mbar
UHV Chamber vacuum pressure: 2.2E^-10 mbar
Scroll pump
Turbo pump
Control panel / Dual joystick
Touch alarm
Stage drift
InLens Detector
SE Detector
4QBS Detector
VPSE Detector
CCD Camera
Cathode head
FE Cathode
Filament heating and extractor currents:
Filament age: 18051.84 Hours
Extractor voltage at 0.2 mA/sr: 4.3 V
Total current at 0.2 mA/sr: 394 µA
Extractor current at 10 kV: 389 µA
Specimen current: 190 µA
Beam shift:
Standard shift: ±7.5 µm
Width: 8.5 mm
Acceleration voltage: 20 kV
Scan rotation: 360°C
Dynamic focus and tilt angle correction
Beam blanking
PC
Operating system: Windows XP.
LEO/ZEISS Supra 40P est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour la recherche et les applications industrielles. Il combine une polyvalence remarquable, des caractéristiques pratiques et une technologie de pointe pour obtenir une imagerie nette, une résolution de surface uniforme élevée et des résultats fiables. LEO Supra 40P offre une gamme de fonctionnalités pour l'imagerie 2D et 3D, en utilisant un canon d'émission de champ « Zero-Dimple » et un détecteur SE Everhart-Thornley de 30 W. Il dispose d'un filtre avancé fonctionnant avec un système de levage motorisé et des commandes numériques. Le système est conçu avec une gamme d'échantillons ergonomiques et une nouvelle colonne enduite de titane pour une stabilité maximale. ZEISS Supra 40P présente une résolution impressionnante pouvant atteindre 1,6nm avec une technologie de filtre numérique de pointe. Cette fonctionnalité intégrée au logiciel améliore la capacité du microscope à représenter les détails les plus fins sur la surface de l'échantillon avec précision et clarté. Un nouveau filtre d'énergie permet à l'utilisateur de sélectionner parmi 12 éléments différents et l'imagerie intégrée au logiciel traite les signaux du canon à électrons pour assurer un champ d'imagerie parfaitement cohérent. Le détecteur d'électrons secondaire avancé Everhart-Thornley fournit une imagerie 3D très détaillée des structures même à l'échelle du nanomètre. Ce détecteur fonctionne également avec le filtre d'énergie pour simuler l'imagerie en champ lumineux et permet aux utilisateurs de voir à travers même les matériaux les plus sombres. Cela réduit également le risque d'imagerie des artefacts et réduit la nécessité d'une préparation coûteuse des échantillons. Supra 40P comprend également plusieurs autres fonctionnalités automatisées, dont un système de traitement des échantillons à faible vibration, un traitement d'imagerie à distance et même un manipulateur robuste. Sa capacité d'imagerie impressionnante et ses fonctionnalités complètes le rendent idéal pour une variété d'applications. Il est fiable, efficace et donne des résultats cohérents.
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