Occasion LEO / ZEISS Supra 40VP #293636806 à vendre en France

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ID: 293636806
Scanning Electron Microscope (SEM) Schottky Field Emission EDAX Everhart-Thornley (Hi-Vacuum) Secondary electron detector OXFORD Electron diffraction Resolution: 1 nm at 20 keV Backscatter detector: 4-Quadrant Variable Pressure Secondary Electron Detector Oil-free rotary pump Turbo (2) Ion getters OXFORD X-Max 80 mm2 SDD EDS EBSD Oxford/Nordlys HKL 9-Pin Wafer section Multipurpose variable clamp Thin section 1" Metallurgical holder HASKRIS Air-cooled Gas requirements: Nitrogen, Compressed air Operating system: Windows 7 Power requirements: 220V.
LEO/ZEISS Supra 40VP est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour l'imagerie ultra haute résolution d'une variété d'échantillons. Il dispose d'une colonne à pression variable avec une distance de travail allant jusqu'à 14 mm et une source Everfab de 120 cm ². Sa plate-forme Philips X'Pert Pro est une plate-forme puissante et fiable capable de sonder la microstructure d'objets à des grossissements allant jusqu'à 200.000x. LEO Supra 40VP est équipé de plusieurs composants qui contribuent à sa résolution supérieure et la clarté de l'image à des grossissements élevés. L'une de ses composantes les plus importantes est la source Everfab, qui est équipée d'un faisceau d'électrons corrigé par gamma et d'un détecteur CCD multi-segmenté. Cette combinaison d'optiques avancées permet une résolution de l'échantillon supérieure à 0,6 nm. Un autre composant important de l'équipement est le spectromètre EDAX Genesis, qui peut être utilisé pour détecter et analyser la composition des échantillons sans les endommager. En plus de ses capacités d'imagerie exceptionnelles, la Supra 40VP dispose également d'une gamme de fonctionnalités conçues pour faciliter son utilisation. Cela comprend une technique brevetée de suppression du bruit, une interface tactile intuitive et des processus automatisés d'alignement, d'étalonnage et de référencement. Le système offre également de puissants outils d'imagerie et d'analyse tels que la diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD) et la spectrométrie dispersive d'énergie (EDS). L'EBSD permet d'identifier et d'analyser les phases cristallines dans les échantillons et l'EDS fournit une analyse qualitative et quantitative de la composition de tous les éléments du tableau périodique. ZEISS Supra 40VP est également équipé d'une unité de préparation automatique d'échantillons, qui se compose d'un évaporateur sous vide automatisé et d'un vaporisateur automatique. Cette machine permet aux utilisateurs de préparer uniformément des échantillons pour l'imagerie et l'analyse. Dans l'ensemble, Supra 40VP est un microscope électronique à balayage polyvalent et puissant spécialement conçu pour l'imagerie à haute résolution et l'analyse de divers échantillons. Ses composants de haute qualité et ses processus automatisés permettent aux utilisateurs d'analyser rapidement et avec précision des échantillons avec des détails sans précédent.
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