Occasion LEO / ZEISS Supra 55 #293699912 à vendre en France

LEO/ZEISS Supra 55 est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) reconnu pour ses capacités d'imagerie exceptionnelles, sa fonctionnalité polyvalente et son interface conviviale. Développé par la collaboration de LEO Electron Microscopy et ZEISS, cet instrument de pointe est conçu pour fournir une imagerie haute résolution pour un large éventail d'applications en science des matériaux, nanotechnologie, sciences de la vie, et au-delà. Au cœur de LEO Supra 55 se trouve sa colonne d'électrons innovante, qui produit un faisceau d'électrons de haute énergie qui interagit avec la surface de l'échantillon, permettant une imagerie et une analyse détaillées à l'échelle du nanomètre. Équipé d'un canon à émission de champ (FEG), le SEM offre une luminosité et une stabilité supérieures, permettant la visualisation de détails et de structures de surface fines avec une clarté exceptionnelle. L'instrument dispose d'une conception de chambre polyvalente qui accueille une grande variété d'échantillons, des matériaux conducteurs aux échantillons non conducteurs qui peuvent nécessiter un revêtement avec une couche conductrice mince pour améliorer la qualité de l'imagerie. La chambre est équipée d'un étage motorisé qui permet un positionnement précis des échantillons et une navigation facile, assurant une collecte et une analyse efficaces des données. ZEISS Supra 55 est équipé de multiples modes d'imagerie et détecteurs, y compris les détecteurs d'électrons secondaires (SE), d'électrons rétrodiffusés (ESB) et de spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS), permettant une caractérisation complète des échantillons et une analyse élémentaire. Le détecteur SE est idéal pour l'imagerie haute résolution de la topographie de surface et de la morphologie, tandis que le détecteur ESB fournit un contraste basé sur le nombre atomique d'éléments dans l'échantillon. En plus des capacités d'imagerie, le SEM offre des fonctionnalités analytiques avancées, y compris l'EDS pour la cartographie élémentaire et l'analyse de la composition chimique. Le système EDS est intégré dans l'instrument, permettant l'acquisition et l'analyse de données sans faille directement dans le logiciel SEM. Cette caractéristique est particulièrement utile pour étudier la distribution élémentaire au sein d'un échantillon et identifier des compositions chimiques spécifiques. La supra 55 est équipée d'une interface utilisateur intuitive et de logiciels avancés qui simplifient le fonctionnement et l'analyse des données. L'interface conviviale permet une navigation facile des paramètres de l'instrument, des modes d'imagerie et des outils d'analyse, ce qui le rend accessible aux utilisateurs novices et aux chercheurs expérimentés. Le logiciel comprend également des outils avancés de traitement et d'analyse d'images, permettant aux utilisateurs d'extraire des données quantitatives à partir d'images SEM et de générer des rapports détaillés. En outre, le SEM est conçu pour améliorer la productivité et l'efficacité, avec des fonctionnalités telles que des routines d'imagerie automatisées, des capacités d'imagerie multi-échantillons, et des options d'exploitation à distance. Ces fonctionnalités permettent aux utilisateurs de rationaliser le flux de travail, de maximiser l'utilisation des instruments et de collaborer efficacement avec leurs collègues à différents endroits. Dans l'ensemble, LEO/ZEISS supra 55 SEM combine technologie d'imagerie de pointe, fonctionnalité polyvalente et conception conviviale pour fournir aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour explorer et analyser une vaste gamme d'échantillons à l'échelle nanométrique. Qu'il s'agisse d'étudier les propriétés des matériaux, d'étudier des échantillons biologiques ou d'effectuer des analyses élémentaires, cet instrument de pointe offre des performances et une polyvalence inégalées pour une gamme variée d'applications scientifiques.