Occasion LEO / ZEISS Supra #293831981 à vendre en France

LEO/ZEISS Supra est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu et fabriqué en collaboration par la célèbre société d'instruments scientifiques LEO et la principale société de microscopie électronique ZEISS. Ce système d'imagerie de pointe est équipé d'une technologie de pointe et de fonctionnalités qui permettent une imagerie très détaillée et précise des nanostructures et des matériaux à l'échelle nanométrique. Caractéristiques et spécifications clés : LEO Supra SEM est construit avec une source d'électrons d'émission de champ (FEG), qui fournit un faisceau d'électrons très cohérent et lumineux pour une résolution d'imagerie supérieure. La source FEG permet également une commutation rapide entre les modes d'imagerie et améliore la stabilité globale et les performances du microscope. Le microscope dispose d'une colonne d'optique électronique polyvalente qui permet de manipuler les paramètres du faisceau tels que l'énergie du faisceau, le courant du faisceau et la focalisation du faisceau, offrant aux utilisateurs la flexibilité d'optimiser les conditions d'imagerie pour différents types d'échantillons et applications. ZEISS Supra est équipé d'un étage de spécimen de haute précision qui permet un positionnement et une manipulation précis des échantillons lors de l'imagerie et de l'analyse. L'étage peut être contrôlé en plusieurs axes et est compatible avec divers porte-échantillons et accessoires pour différents besoins expérimentaux. L'une des caractéristiques exceptionnelles de Supra est ses détecteurs d'imagerie avancés, y compris les détecteurs d'électrons secondaires (SE), les détecteurs d'électrons rétrodiffusés (ESB) et les détecteurs de spectroscopie de rayons X à dispersion d'énergie (EDS). Ces détecteurs permettent la collecte de divers signaux à partir de la surface de l'échantillon, fournissant des informations précieuses sur la composition de l'échantillon, la topographie et la structure cristallographique. Le SEM est équipé d'une interface logicielle sophistiquée de contrôle et d'imagerie qui permet aux utilisateurs de naviguer et de contrôler facilement les fonctions du microscope, d'ajuster les paramètres d'imagerie, d'acquérir des images et des données et d'effectuer des tâches avancées de traitement et d'analyse d'images. Le logiciel prend également en charge les fonctions d'automatisation pour l'acquisition et l'analyse de données efficaces. Applications et avantages : LEO/ZEISS Supra SEM est largement utilisé dans diverses applications scientifiques et industrielles, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie, la recherche sur les semi-conducteurs, l'imagerie biologique et l'analyse des défaillances. Il est particulièrement bien adapté pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail d'échantillons, y compris les métaux, les polymères, la céramique, les composites, les tissus biologiques et les nanoparticules. Les capacités d'imagerie haute résolution de LEO Supra en font un outil précieux pour étudier les nanostructures, les morphologies de surface et les propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique. Les chercheurs et les scientifiques peuvent utiliser le SEM pour étudier des caractéristiques telles que les limites des grains, les défauts des cristaux, la rugosité de surface et la distribution des particules avec un détail et une clarté exceptionnels. Le système EDS avancé du microscope permet une analyse élémentaire qualitative et quantitative des échantillons, fournissant des informations précieuses sur la composition des échantillons, la distribution élémentaire et le collage chimique. Cette information peut être cruciale pour comprendre les propriétés des matériaux, identifier les contaminants, caractériser les revêtements et étudier les réactions chimiques au niveau des nanomatériaux. En plus des capacités d'imagerie et d'analyse, ZEISS Supra SEM offre des fonctionnalités pour des techniques de microscopie avancées telles que la lithographie de faisceaux d'électrons, la diffraction d'électrons et l'imagerie cathodoluminescence. Ces techniques élargissent encore les capacités du microscope et permettent une caractérisation plus complète et plus détaillée des échantillons. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage supra combine des technologies de pointe, des capacités d'imagerie de haute performance et des opérations conviviales pour fournir aux chercheurs et aux scientifiques un outil puissant pour explorer le monde nanométrique et faire progresser les connaissances dans divers domaines de la science et de la technologie.