Occasion NGR 3520 #9313577 à vendre en France
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ID: 9313577
Taille de la plaquette: 8"-12"
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM), 8"-12"
Maximum field of view: 70 x 70 um
Minimum pixel size: 1 nm.
NGR 3520 est un microscope électronique à balayage (SEM) spécialement conçu pour l'imagerie de surfaces d'échantillons du micron au nanomètre. Il est équipé d'une source d'électrons d'émission de champ 20kV Schottky, d'un porte-échantillons orthogonal et d'un système d'imagerie entièrement numérique pour un fonctionnement haute précision et haute résolution. Le canon à électrons de 3520 est une source ponctuelle qui est positionnée près du milieu du boîtier de la lampe. Ceci assure des rendements élevés en électrons avec une énergie élevée et des distances très courtes entre le canon et l'échantillon à balayer. Le champ de vision est d'environ 5 à 20 mm, tandis que la distance de travail totale entre le canon et l'échantillon est réglable jusqu'à 10 mm pour tenir compte de différentes tailles et formes d'échantillons. Cela permet une large gamme de grossissements et de conditions de fonctionnement. L'objectif de NGR 3520 est un condenseur d'émission de champ Schottky inclinant. Cette conception permet une large gamme de distance de travail pour accueillir différentes tailles et formes d'échantillons. Le porte-spécimen intégré permet une navigation et un positionnement précis des échantillons avec une précision de 5 secondes d'arc dans toutes les directions. Le système d'imagerie de 3520 est constitué d'un canon d'obturation et d'un déflecteur latéral d'électrons, ainsi que d'un système de détection de doublement de fréquence. Le pistolet obturateur commande le faisceau d'électrons pour qu'il puisse être focalisé avec précision et précision, et le déflecteur latéral compense toute distorsion ou dérive de la tache électronique dans le trajet de l'image. Il en résulte une image claire et nette qui convient à la fois pour l'analyse de surface et l'imagerie. En utilisant NGR 3520, les échantillons peuvent être analysés en haute résolution à la fois en SEM et en imagerie électronique rétrodiffusée. Cela permet une imagerie précise des caractéristiques de surface et des informations de composition de l'échantillon. De plus, la source d'électrons peut être utilisée pour stimuler la production d'électrons secondaires pour visualiser la topographie de surface. Des conditions environnementales contrôlables sont disponibles en 3520 pour caractériser les échantillons sensibles à des facteurs externes, tels que l'humidité et le gaz. Cet instrument est également capable d'effectuer des investigations à basse température, fournissant une imagerie à haute résolution à des températures allant jusqu'à -172 ° C En résumé, NGR 3520 est un puissant microscope électronique à balayage qui offre des images à haute résolution, une navigation de spécimen de précision, une distance de travail réglable et des fonctions de contrôle environnemental. Il convient à une variété d'applications de recherche qui nécessitent une analyse détaillée ou quantitative des caractéristiques de surface et de la composition à l'échelle macro et micro.
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