Occasion OKOS VUE 400 #9266141 à vendre en France

OKOS VUE 400 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des capacités complètes d'imagerie haute résolution. Il comprend un détecteur ultra haute résolution avec une gamme de grossissements jusqu'à 600 kV et une suite logicielle haute performance pour l'analyse et les simulations d'images. Les capacités d'imagerie de VUE 400 permettent diverses applications, allant de la caractérisation des matériaux et de l'inspection de surface à l'imagerie 3D et à la nanofabrication. OKOS VUE 400 comprend un canon à émission de champ en colonne et un scanner de déviation mono-axe à haute résolution. Cette combinaison offre une excellente capacité d'imagerie et de résolution, rendant VUE 400 idéal pour l'imagerie quotidienne ainsi que des tâches de haute résolution telles que des reconstructions 3D et des analyses matérielles. Les champs d'émission de canon génère des faisceaux d'électrons focalisés qui sont capables de pénétrer des échantillons de matériaux minces tels que des polymères et des films céramiques. L'isolation sous vide et l'étanchéité hermétique de la colonne offrent une stabilité et une fiabilité d'imagerie supérieures. OKOS VUE 400 dispose d'un grand moniteur LCD de 12,1 pouces pour un fonctionnement et une visualisation faciles, ainsi que d'un mécanisme automatisé efficace d'élévation d'étage qui permet une imagerie efficace tout en préservant l'intégrité de l'échantillon. La suite logicielle conviviale fournit une gamme d'applications de traitement d'image ainsi qu'une bibliothèque de mesure pour des analyses et des rapports automatisés. De plus, un module de microscope à force atomique (AFM) est disponible, permettant aux utilisateurs d'explorer les caractéristiques nanométriques d'un échantillon. VUE 400 est conçu pour accueillir des environnements d'échantillons in situ et ex situ. Cette capacité à passer de l'un à l'autre offre des possibilités expérimentales flexibles. Par exemple, il peut être utilisé pour des observations in situ de structures fines dans des systèmes organiques, et pour des observations ex situ de nanostructures. Enfin, OKOS VUE 400 est construit avec une architecture ouverte qui permet la compatibilité avec divers accessoires de microscope. Son logiciel et son matériel hautement capables ouvrent un monde de possibilités de recherche, de l'imagerie à l'analyse de structures, reconstructions 3D et plus encore.