Occasion PARK SYSTEMS XE-300 #9221612 à vendre en France

PARK SYSTEMS XE-300 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe qui permet de capturer des images à haute résolution de structures nanométriques avec une résolution inférieure à 0,75 nm. XE-300 utilise un système de pression variable Everhardt-Thornley (VPS) pour fournir un contrôle optimisé de la chambre de prélèvement pour le fonctionnement dans les modes à vide élevé et à vide faible. PARK SYSTEMS XE-300 utilise un modèle de colonne de pointe avec un canon à deux étages, composé d'un canon à lentille et d'un canon à électrons à filament de tungstène. Ces canons doubles permettent aux XE-300 de capturer des images ultra haute résolution même sous des grossissements élevés. En outre, le pistolet à lentille permet une vitesse d'imagerie plus rapide jusqu'à 3200x vitesse de ligne. PARK SYSTEMS XE-300 utilise également un système de correcteur Cs optimisé pour réduire l'aberration sphérique et maximiser le contraste d'image. XE-300 offre également un large éventail de capacités analytiques pour caractériser les nanomatériaux. Grâce au spectromètre à rayons X dispersif (EDS), les utilisateurs sont en mesure d'effectuer une analyse élémentaire et d'identifier la composition du matériau. De plus, PARK SYSTEMS XE-300 est équipé d'un spectromètre X-Ray Auger (XAES) et d'un spectromètre à rayons X dispersif de longueur d'onde (WDS), qui peuvent être utilisés pour mesurer la composition chimique des matériaux. Avec l'unité optionnelle de diffraction par rétrodiffusion électronique (EBSD), les utilisateurs peuvent également effectuer des mesures cristallographiques et analyser la structure cristalline. XE-300 offre une gamme de fonctionnalités qui permettent aux utilisateurs de contrôler et d'automatiser avec précision les processus d'imagerie et d'analyse. Cela comprend une interface utilisateur intuitive pour la mise en place rapide, un porte-échantillon à six entrées pour le montage inverse des échantillons, et un contrôle avancé du mouvement de l'étage pour un balayage précis. Avec l'optique des détecteurs commandée par PC, les utilisateurs peuvent contrôler la présence des détecteurs dans l'image SEM, offrant ainsi une plus grande clarté et un plus grand contraste. Dans l'ensemble, PARK SYSTEMS XE-300 est un microscope électronique à balayage avancé qui est parfait pour capturer des images ultra-haute résolution de structures nanométriques. Avec une variété de capacités analytiques et des fonctionnalités d'automatisation avancées, XE-300 offre une capacité inégalée pour l'étude des nanomatériaux.