Occasion PARK SYSTEMS XE-70 #9225309 à vendre en France
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Vendu
ID: 9225309
Atomic Force Microscope (AFM)
XY Scanner:
Single-module flexure with closed-loop control
UV LED Head has been replaced
Computer with (2) monitors
Controller
Light source
Scan range:
100 μm x 100 μm
50 μm x 50 μm
10 μm x 10 μm
Manual stage:
XY Travel range: 13 x 13 mm
Z Travel range: 29.5 mm
Focus travel range: 70 mm
Z Scanner range:
Guided high-force Z scanner
Scan range: 12 µm, 15 µm
Sample mount:
Sample size: Up to 100 mm
Thickness: Up to 20 mm
Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
Coupled with 10x objective lens
Field-of-view: 480 x 360 µm
CCD: Mpixel
Electronics:
DSP: 600 MHz with 4800 MIPS
Maximum 16 data images
Maximum data size: 4096 x 4096 Pixels
Signal inputs: 20 Channels of 16 bit ADC at 500 kHz samplings
Signal outputs: 21 Channels of 16 bit DAC at 500 kHz settling
Synchronous signal:
End-of-image
End-of-line
End-of-pixel TTL signals
Includes:
ACOUSTIC Enclosure
MINUS K TECHNOLOGIES Platform
Power: 120 W
CE Marked.
PARK SYSTEMS XE-70 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour répondre aux besoins des chercheurs dans divers domaines tels que la nanotechnologie et la science des matériaux. XE-70 offre des capacités d'imagerie dynamique uniques, ce qui en fait un choix idéal pour l'imagerie haute résolution, la caractérisation de surface et l'analyse tridimensionnelle. PARK SYSTEMS XE-70 dispose d'un appareil photo numérique de 12 mégapixels et d'un détecteur d'énergie à large bande pour capturer des images à des résolutions allant jusqu'à 1 nanomètre. Sa source d'électrons haute tension est capable de produire des faisceaux de 0,5 à 100keV et offre un large éventail de techniques d'analyse, y compris la diffraction de rétrodiffusion d'électrons, l'imagerie électronique secondaire et la microanalyse des rayons X. XE-70 offre également une large gamme d'étapes d'échantillonnage pour accueillir de nombreuses tailles et formes différentes de spécimens. PARK SYSTEMS XE-70 dispose d'un certain nombre d'éléments améliorants qui en font un choix idéal pour mener des recherches sophistiquées. Son système de contrôle environnemental maintient des niveaux de vide stables pendant les opérations et minimise les interférences des vibrations environnementales, ce qui le rend parfait pour l'imagerie haute résolution. XE-70 dispose également d'une interface numérique conviviale, ce qui facilite l'utilisation du microscope et la manipulation de ses paramètres. De plus, son logiciel intégré de traitement d'image facilite le traitement des données et la création d'images de haute qualité. Dans l'ensemble, PARK SYSTEMS XE-70 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent qui offre des performances et une flexibilité inégalées. Avec sa capacité à capturer des images à haute résolution et son large éventail de capacités analytiques, il est un choix idéal pour les chercheurs dans divers domaines.
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