Occasion PARK SYSTEMS XE-HDM #9394707 à vendre en France

SYSTÈMES DE PARCS XE-HDM est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu par PARK SYSTEMS pour mener des recherches en sciences des matériaux à haute résolution et en métrologie. Le système XE-HDM SEM utilise une source d'électrons de type « Field Emission Gun » (FEG) de pointe combinée à une optique électronique innovante pour atteindre une résolution élevée de 1,2 nm. PARK SYSTEMS XE-HDM est également équipé d'électrons secondaires (SE), d'électrons rétrodiffusés (ESB) et de détecteurs d'émissions de champ (FESEM). XE-HDM offre aux utilisateurs l'avantage d'une large gamme dynamique, permettant des observations depuis l'échelle nanométrique jusqu'à des échelles d'échantillons plus grandes. PARK SYSTEMS XE-HDM utilise une source d'électrons FEG haute performance, qui produit un faisceau d'électrons de haute luminosité avec une excellente stabilité énergétique donnant des images haute résolution. XE-HDM est capable d'atteindre des résolutions aussi faibles que 1,2 nm et a une distance de travail allant jusqu'à 0,7 mm. PARK SYSTEMS XE-HDM offre également deux capacités d'analyse avec ses systèmes de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) et de spectroscopie à rayons X dispersive de longueur d'onde (WDX). Les systèmes EDS et WDX sont capables d'analyse élémentaire ou de composition avec une résolution spatiale de 0,6 µm. XE-HDM est équipé de deux détecteurs d'électrons secondaires pour l'imagerie topographique, d'un détecteur d'ESB à faible vide, d'un détecteur à colonne sans fenêtre et d'un détecteur de diffusion à faible angle (SAS). Le détecteur ESB est idéal pour l'imagerie d'échantillons métalliques et composites ainsi que pour cartographier les variations de propriétés chimiques locales. PARK SYSTEMS XE-HDM est également équipé d'un détecteur FESEM (Field Emission Scanning), qui fournit une capacité d'imagerie extrêmement haute résolution. Le FESEM est capable d'imager à des résolutions aussi faibles que 0,8 nm. En plus de ses capacités d'imagerie, le système XE-HDM offre également un certain nombre de fonctionnalités qui en font un outil puissant pour la recherche en métrologie. PARK SYSTEMS XE-HDM est équipé d'un système unique automatisé de recherche de caractéristiques focales (FFF) qui permet de localiser les bords des échantillons et de focaliser automatiquement le faisceau d'électrons avec un degré élevé de précision. XE-HDM offre une variété de mesures automatisées, telles que des mesures d'épaisseur et de rugosité et des mesures de surface. PARK SYSTEMS XE-HDM offre également une option de détection d'écart et de mesure de hauteur de pas pour des mesures automatisées avec une résolution allant jusqu'à 1 nm. XE-HDM est un microscope électronique à balayage capable adapté à la recherche en sciences des matériaux et en métrologie. Grâce à sa conception électronique innovante et à sa source d'électrons FEG haute performance, PARK SYSTEMS XE-HDM offre une excellente résolution et une large gamme de capacités analytiques. Le Focus Finder automatisé de XE-HDM et une variété de mesures automatisées offrent à l'utilisateur un outil puissant pour la recherche en métrologie.