Occasion PHENOMWORLD Phenom XL #293615050 à vendre en France

C'est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre des capacités d'analyse uniques pour une variété d'applications. Le système utilise une large gamme de techniques de balayage et offre un niveau avancé de polyvalence, permettant une analyse automatisée précise aux plus hauts niveaux de grossissement. Phenom XL dispose d'un canon à émission de champ (FEG) pour générer un faisceau d'électrons de haute luminosité, permettant une plus grande profondeur de champ et une imagerie à plus haute résolution. De plus, la source d'électrons FEG maximise la luminosité et la qualité du faisceau d'électrons et fournit des taux d'acquisition plus rapides. Quelques-unes des caractéristiques de la Phénome XL sont les suivantes : Autodetect System - Détecte automatiquement les échantillons et ajuste les paramètres pour une qualité d'image optimale. Navigation automatisée - Sélectionne et scanne automatiquement les régions d'intérêt. Modes d'imagerie avancés - Utiliser de nombreuses techniques d'imagerie telles que la moyenne numérique des trames, l'analyse des lignes et l'ajustement des canaux. Détection sous vide - Détecter les particules et les ions dans un environnement sous vide. Détecteur numérique à calibrage automatique - Ajuste automatiquement le champ de vision du détecteur en fonction de la forme et de la taille de l'échantillon. Sélection du mode d'imagerie - Basculement entre les modes d'imagerie tels que le champ lumineux, le champ sombre, la composition et l'imagerie élémentaire. Spectroscopie multi-émissions - Mesurer la distribution d'énergie des électrons accélérés afin d'étudier les matériaux. Alignement automatisé du faisceau - Détecte automatiquement la déformation du faisceau, la dérive et les désalignements pour une meilleure précision du faisceau. Balayage automatique des faisceaux - Scanne automatiquement une région d'intérêt sans intervention de l'utilisateur. Analyse automatisée - Effectue automatiquement des calculs mathématiques statistiques ainsi que des mesures de granulométrie et de sphéricité. Mise en scène automatisée de l'échantillon - Déplacez l'étape de l'échantillon afin de sélectionner et de se concentrer sur différentes régions. Phenom XL est un outil idéal pour un large éventail d'applications telles que la science des matériaux, les études microbiennes, l'analyse des défaillances microélectroniques et l'analyse des défauts semi-conducteurs. Il fournit la solution ultime pour l'imagerie haute résolution, l'analyse automatisée et les techniques d'imagerie avancées. Le système comprend des interfaces utilisateur avancées, un contrôle automatisé des étages et une qualité d'image supérieure qui le rendent idéal pour des flux de travail exigeants.